中古 SEMICS Opus II #9407059 を販売中

SEMICS Opus II
製造業者
SEMICS
モデル
Opus II
ID: 9407059
Wafer prober.
SEMICS Opus IIは、半導体、ICパッケージング、イメージセンサアプリケーションを含む基板の高スループット、高精度プロービング用に設計された高性能、多機能プローバです。Opus IIプラットフォームは、3Dおよび100mmウェハスケール基板の両方を含む幅広い基板に対して信頼性の高い反復可能な結果を提供します。SEMICS Opus IIは反転設計で、高いレベルの基板へのアクセス性と操作性を実現しています。特許取得済みのSHM変調制御技術により、Opus II proberは基板成形における高いレベルの再現性、精度、効率を保証します。プローバには、横方向および縦方向のSCMプローブ、MEMSプローブ、ICチッププローブ、ICパッケージプローブなど、さまざまなプローブが装備されており、基板試験時の柔軟性が向上します。Proberは一般的なテストソフトウェアプログラムと互換性があり、業界標準と互換性があります。信頼できる結果を保証するために、SEMICS Opus II proberには多数の組み込みの安全機能が含まれています。その空気軸受け動き制御システムはテストの間に基質への偶然の損傷の危険を除去する滑らかな、精密な動き配達を可能にします。統合された6軸ダイナミックアライメントシステムは、結果の精度と再現性をさらに向上させ、プローバの剛性フレームは振動とサーマルドリフトを最小限に抑えてパフォーマンスを向上させます。さらに、Proberはユーザーフレンドリーなインターフェースを備えており、すべての機能に簡単にアクセスできます。直感的なディスプレイとコントロールにより、オペレータはテストパラメータを簡単に監視、制御、調整できます。Opus IIには、包括的なデータキャプチャとトラッキング機能も含まれており、ユーザーは結果をすばやく確認および分析することができます。SEMICS Opus II proberは、幅広い試験要件に最適で、信頼性が高く、正確で反復可能な性能を提供します。堅牢な設計、組み込みの安全機能、簡単な操作、包括的なデータトラッキング機能により、あらゆる半導体テスト要件に最適です。
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