中古 SEMICS Opus II #9407052 を販売中

SEMICS Opus II
製造業者
SEMICS
モデル
Opus II
ID: 9407052
Wafer prober.
SEMICS Opus IIは、ウェーハテストと品質分析のためのプローバです。半導体業界では、製造プロセスの前後に小さなデバイスのプロービングとテストに使用されています。これは、生産と設計に関する有用なフィードバックを提供し、より正確な品質管理、誤った製品の排除、生産プロセスのより良い最適化をサポートします。Opus IIは、マルチサイトウェハプロービングおよびテスト、およびリアルタイム温度検出、DCおよびRF測定、およびその他のさまざまな構成テストおよび測定を備えた4Dウェハマッピングが可能な汎用性の高いプローバです。SEMICS Opus IIは、最大56段階のウェーハマッピングにより、ウェーハ位置ごとに詳細な解析を行うことができ、従来の方法に比べて測定時間を大幅に短縮できます。Opus IIには、自動校正やテストプログラム作成などの高度なオートメーションも装備されています。Proberは、AI技術と統合されたモジュールであるSEMICSインスペクターに接続できます。これにより、プローバはテスト結果の品質と所望の結果からの偏差をすばやく特定することができます。SEMICS Opus IIは、計測システムとの互換性のために構成されており、重大寸法、データロギング、ビニングなどのさまざまなウェーハ測定を可能にします。さらに、高度なダイツダイおよびパターン間アライメント機能は、さまざまな測定タスクに適しています。Opus IIには人間工学に基づいて設計されたヒューマンインターフェースが装備されており、クリアアイコンとグラフィックスを備えた直感的でユーザーフレンドリーな操作を提供します。これにより、ユーザーはテストの要件に合わせてさまざまなコンポーネントを簡単に制御および構成することができます。さらに、システムは手動オペレータのオーバーライドで設計されており、必要に応じてテストプロセスを完全に制御できます。要するに、SEMICS Opus IIは高性能で信頼性の高いプローバであり、生産中の複数のウェハテストと品質分析に適しています。高度なオートメーション、人間工学に基づいた設計、計測ソフトウェアとの互換性により、幅広い作業に使用でき、効率的なウェーハテストと品質管理に優れたソリューションを提供します。
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