中古 SEMICS Opus II #9407041 を販売中

SEMICS Opus IIは、SEMICS GmbHによって製造された多目的マルチチャネル表面解析プローバです。スキャン電子顕微鏡、オーガー電子分光法、X線光電子分光法、イオンビームマッピング、深度プロファイリングなど、幅広い表面解析アプリケーションに対応できるように設計されています。Opus IIは、あらゆる研究環境や生産環境に適した、洗練されたユーザーフレンドリーなマルチチャネルプラットフォームを提供します。SEMICS Opus IIは、ユーザーが希望するアプリケーションに応じて異なる分析コンポーネントをプラットフォームに追加できるモジュール設計を備えています。Opus IIの主な構成要素は、表面露出のための制御可能な気体気流、異なるサンプルサイズに対応するためのサンプルステージ、および異なるプローブを接続するための複数のチャネルを含みます。システムは、スタンドアロン形式で動作するか、リモートで制御することができます。SEMICS Opus IIは、高精度で表面やインタフェースの高解像度調査を行うことができます。立体（3D）画像再構成技術を活用し、走査型電子顕微鏡（SEM）、超小型電子顕微鏡、走査トンネル顕微鏡（STM）など、さまざまなプローブから高解像度の画像を取得することができます。これにより、サンプルを3Dで簡単かつ迅速にスキャンし、収集したデータを分析することができます。3Dイメージングに加えて、Opus IIにはさまざまな分析プローブがあります。オーガー電子分光法（AES）、 X線光電子分光法（XPS）、粒子誘導X線放射（PIXE）、二次イオン質量分光法（SIM）などがあります。これらのプローブは、サンプル表面の徹底的かつ詳細な分析をユーザーに提供するように設計されています。SEMICS Opus IIシステムのコントローラは、直感的で使いやすいソフトウェアプログラムです。これにより、プラットフォームの複数の分析チャネルを設定および制御したり、カスタム分析プロトコルを作成したりすることができます。ソフトウェアには、収集されたデータを解釈および報告するためのツールも含まれています。Opus IIは、あらゆる分析用途に適した信頼性の高い汎用性の高い表面解析ツールです。基本的な表面特性評価から高度な生産および研究アプリケーションまで、最高品質の一貫した信頼できる結果をユーザーに提供します。