中古 SEMICS Opus II #9407032 を販売中

SEMICS Opus IIは、ウェーハなどのパッケージ半導体デバイスの電気特性評価用に設計された半導体プローバです。プローバは、配線、テスト、および、ドレイン電流、電源電圧、および温度などのパラメータを監視することができます。デバイスと関連する環境間の電気的相互作用を物理的に検証するために設計されています。Opus IIは単軸マニピュレータとマルチチャンネルセンシングおよび電源装置を組み合わせたパラレリザベール計測器プラットフォームに基づいています。マニピュレータは、500 mm X軸と100 mm Y軸の範囲を介してデバイスを横断することができます。プラテンは、50および100 mmウェーハおよびその他の構成と互換性があります。マルチチャンネルセンシングおよび電源システムには、最大256チャネル、6ボルトグリッド、および8つのユーザー選択可能なDC電源電圧の揮発性および不揮発性メモリが含まれます。また、ユーザーが選択可能なDC電流測定も追加されています。Proberには、いくつかの安全機能も含まれています。安全ロックは、緊急時にユーザーがユニットを操作するのを防ぎます。また、テストプローブを素早く正確に配置するためのAuto Retraceマシンも備えています。これにより、環境やサンプルの変化に関係なく、一貫性のあるテストが可能になります。プローバの動作性能と精度に寄与するその他の機能には、精密通信回路や高度なデジタル信号処理などがあります。プローバはAllen-Bradley Compact制御ツールを搭載しており、ウェーハおよびデバイスパッケージの迅速かつ正確なテストに必要なハードウェアとソフトウェアを提供します。パッケージング図面、パス設計、断面解析、およびテストパラメータの修正が含まれています。また、いくつかの標準テスト機能がありますが、プローブの自動ルーティングと結果の自動保存に限定されません。全体として、SEMICS Opus IIは、パッケージ化されたデバイスとウェーハの両方の電気特性評価用に設計された強力で信頼性の高いプローバです。その正確でプログラム可能な機能と強力な制御アセットは、さまざまなテスト要件に適しています。