中古 SEMICS Opus II #9380526 を販売中

SEMICS Opus IIは、半導体やMEMSなどの高精度デバイスを量産するためのプローバ装置です。コスト効率に優れたPCIベースの試験およびプロービングシステムで、速度と精度を向上させながらコストを削減するように設計されています。このプローバの特徴は、AC/DCシャーププローブとその波長スキャン技術です。Opus IIは、0。1 μ mまでの線幅を正確に検出し、プローブチップへの自動アライメントを提供します。このユニットは、2台のカメラを使用した独自の高解像度光学アライメントマシンを使用しています。これにより、プローバは5 μ m以下の精度でデバイスパターン機能を識別して特定することができます。さらに、この光学アライメントツールは、プローバとデバイス基板の間のギャップを非常に小さくするため、非常に正確なプロービングを可能にします。アセットに統合されたAC/DCシャーププローブ技術により、最大プローブ深度は5 μ m、精度は最大1 μ mです。Proberの光アライメントモデルは、サンプルパターンを細かくセグメント化して、最小の機能でも検出することができます。これにより、正確なプロービングが可能になり、高収量デバイスの生産プロセスを確実にします。SEMICS Opus II装置の主な特徴は高速であり、1秒あたり最大1億5000万DSPの動作を可能にする高出力の組込みプロセッサを備えています。この速度により、プローバは最大100 kHzのスキャン速度で高速なデータ取得を提供できます。システムによって取得されたデータは、さらにプロービングプロセスを最適化するために、統合ソフトウェアを使用してエクスポートおよび分析することができます。このユニットは、4つのUSBポート、HDMI、ギガビットイーサネット、RS232およびイーサネット、16のデジタル信号処理チャネルを含む幅広いI/Oオプションを提供します。これにより、マシンは非常に汎用性が高く、複数の接続オプションを提供するため、幅広いアプリケーションに適しています。さらに、Opus IIは、最も人気のあるオペレーティングシステムの多くを直接サポートし、さまざまな産業環境に統合することができます。結論として、SEMICS Opus II proberツールは、費用対効果の高い高速試験およびプロービングソリューションであり、幅広いアプリケーションに適した機能を提供します。このアセットは、高精度なデバイスの製造に最適で、サンプルパターンを細かくセグメント化して、最小の機能でも検出できます。さらに、このモデルの統合されたI/Oオプションと幅広い接続ソリューションにより、汎用性と堅牢なプローバ機器となります。