中古 SEMICS Opus II #9284013 を販売中

SEMICS Opus IIは、ウェーハレベルのデバイスの高性能テストとデバッグ用に設計されたハイエンドプローバ装置です。スケーラビリティ、自動化、高精度を念頭に置いて設計されています。プローバーシステムは、精度0。1ミクロンまでの小さな特徴を測定するように設計された高精度の完全自動プロービングステージで構成されています。プローバーユニットには、温度、電圧、光信号などのデータを収集するための多数の高度なセンサーが装備されています。プローバーマシンには、電気、光学、サーマルプロービングなどのさまざまな精密測定方法と、自動マイクロエッチング、レーザーエッチング、CMP（化学機械研磨）用の専用機器が揃っています。これらの機能はすべて、ウェハレベルのICテストで非常に有益であり、微妙な設計エラーやデバイスの微細構造を正確に明らかにするのに役立ちます。プロバーツールは、自己キャリブレーションとリモート診断も可能です。このモードでは、自己誘発されたエラーを監視および修正することができ、すべての結果が高精度で再現性に優れていることを保証します。Proberアセットのオートメーション機能により、複数のウェーハを並列に迅速に評価することができ、各ウェーハのテストに必要な時間を大幅に削減できます。また、複数のDUTタイプをサポートしているため、幅広い用途に最適です。SEMICS Opus IIには、オートメーション機器などの他のシステムとの統合機能など、いくつかの高度な機能があり、さまざまな産業分野での作業が可能です。また、統合されたData Analysis Suiteがあり、デバイスのテスト結果を非常に詳細かつ多目的に分析できます。これにより、設計プロセスの開始時からの設計上の欠陥や故障を明確に識別することができます。Opus IIは高度なプローバーモデルで、幅広い用途に適しています。この装置の機能は、ウェハレベルのデバッグプロセスの速度と精度を最大化することを目指すICエンジニアリング企業にとって優れた選択肢となります。