中古 SEMICS Opus II #9184456 を販売中

SEMICS Opus IIは、半導体デバイスの高度なウェーハ試験および回路評価用に設計されたプローバです。これは、高度な特性評価、歩留まり検証、およびデバイス試験のための、完全に自動化された最先端のマシンです。ユーザーフレンドリーなインターフェイスと使いやすいソフトウェアを備えたさまざまな制御および測定システムを備えています。Opus IIは、高電圧、低電圧、電流測定、高度な動的試験プロトコルなどの従来の電気試験方法をサポートするように設計されています。接触試験と非接触試験の両方の機能を備えており、1つのチップで複数のテストを可能にするマルチビームテストをサポートしています。SEMICS Opus IIは、迅速な欠陥ローカライズと高度なフォルト絶縁機能のための組み込み機能を備えたウェハレベルのテストに使用できます。DCおよびダイナミックテストをサポートし、パラメトリックおよびスモールシグナルデバイスのテストを実行できるため、歩留まり解析、信頼性試験、品質保証、故障解析に特に適しています。ソフトウェア側では、Opus IIには、自動デバイスの特性評価とパラメトリックテストツールの包括的なスイートが含まれています。高度なカスタマイズ性を持ち、テストプロセスの完全な自動化をサポートします。また、すべてのテストデータが安全に保存され、簡単にアクセスできるように、詳細なレポートとトレーサビリティ機能も提供しています。SEMICS Opus IIは、信頼性と費用対効果の高いプロバーシステムを求める半導体デバイスメーカーにとって理想的なソリューションです。使いやすさと高度なテスト機能を兼ね備え、信頼性と包括的なウェーハテストを提供します。生産試験と研究開発の両方のニーズを満たすために構築されています。