中古 SEMICS Opus II #9119446 を販売中

SEMICS Opus IIは、接触、非接触、ICコンポーネント、および半導体ウェーハ欠陥解析に使用される先進技術プローバです。高い精度と再現性を備えたOpus IIは、ウェーハ表面およびワイヤおよびコンタクトパッドの微細な欠陥を正確かつ迅速に検出および判別します。SEMICS Opus IIは、温度制御された環境で動作し、特許取得済みのウエハオリエンテーションシステムと高度な光学系とソースアライメントを備えています。プローバーの光学システムには、可変焦点ズームレンズとピエゾ電動XYZステージがあり、技術者は手動でズームレンズとウェーハ上のプローブ位置を調整することができます。高解像度光学に加えて、高度な接触センサーと非接触センサーを備えており、構造物の目に見えない欠陥を非常に高速で検出することができます。このセンサは、回路密度のばらつきなど、小さな構造欠陥でも取り出すことができます。また、高解像度CCDカメラと高感度IRカメラを搭載しています。CCDカメラは最大800万画素の画像をキャプチャし、IRカメラはわずかに欠陥がある領域で放出される温度の微細な変化をキャプチャします。トラブルシューティングとデバッグのために、SEMICS Opus IIには、貴重な統計解析、障害検出、およびコンピュータでシミュレートされた故障解析を提供する貴重なテストスイートが含まれています。Proberの最先端のデータ収集および分析機能は、リアルタイムの更新で利用できます。Opus IIは、製品関連の欠陥を迅速に特定するために設計されており、製品コストの削減、生産のダウンタイムの削減、製品品質の向上に役立ちます。