中古 SEMICS Opus II #293714774 を販売中

SEMICS Opus IIは、自動化されたウェーハテストアプリケーションで高度なデバイスをテストするために設計された次世代プローバです。次世代ウェーハテストアプリケーションの厳しい要件を満たす機能を提供します。Opus IIは、半導体試験で使用されている既存のプラットフォームと比較して機能が向上し、拡張されています。SEMICS Opus IIは、高い柔軟性で高いスループットを提供する高度なプローバです。設計に含まれるメカニズムにより、デバイスの一貫性を正確に評価できます。Opus IIは、VXIコントローラとデバイスの電気的および光学的パラメータを測定するための高度な試験測定器で設計されています。装置の特性を統計的に正確に測定します。SEMICS Opus II Proberには、最新の技術と機器を使用してデバイスのパラメータを正確に測定する高度な電気試験システムが装備されています。電気テストユニットは、カスタムプローブ、カスタムパンチカード、および幅広いアプリケーション固有のテスト機器を統合しています。カスタムプローブはデバイスのコンタクトパッドに直接接触し、カスタムパンチカードはテストに必要なサイクル数を削減します。また、カメラやレーザーなどの光学試験装置を装備し、半導体デバイスのさらなる解析を行っています。この光学試験により、ダイやウェハーマップなどのデバイスのさらなる特性評価が可能となり、高い精度でウェハテストを行います。さらに、プローバーには温度と湿度チャンバーが装備されており、デバイスの性能に対する環境条件の影響を測定するために使用されます。Proberの統合ソフトウェアスイートは、テスト結果を包括的に分析するための高度な機能を提供します。ソフトウェアスイートには、プローバ制御、テスト測定、解析、データストレージなどのいくつかのモジュールが含まれています。ソフトウェアはアプリケーションの要件を満たすように構成することができ、プローバーを使用するための教材も含まれています。Opus II proberは、次世代の先進半導体デバイスをテストするための効果的なツールです。デバイス特性を正確に測定し、試験結果を正確に分析するための高度な機能を備えています。統合ソフトウェアスイートは、プローバ制御、テスト測定、解析、データストレージなど、さまざまな機能を提供します。このソフトウェアは、アプリケーション要件を満たすように構成するのも簡単です。Proberは、高度なデバイスを含むさまざまなウェーハテストアプリケーションに適しています。