中古 SEMICS Opus II #293645158 を販売中

SEMICS Opus IIは半導体業界の高性能プローバです。半導体デバイスおよび集積回路（IC）のテスト、特性評価、デバッグに使用されます。プローバーは、プロービング、イメージング、電気特性評価などの機能と機能の完全なセットを提供します。自動化されたプログラマブルなインターフェースと包括的なテストルーチンを備えており、ユーザーはコンポーネント、チップ、パッケージ、ボードを迅速かつ正確に分析できます。Opus II proberは、さまざまな産業および研究アプリケーションに適した幅広い技術的機能とオプションを提供しています。このプローバは、接触抵抗試験、エアギャップ測定、誘電破壊電圧試験、静電放電（ESD）試験、電気性能監視など、さまざまな物理試験を行うことができます。さらに、装置は高度な画像処理機能を備えており、ユーザーはテスト中のデバイスの高解像度画像をキャプチャすることができ、迅速かつ正確な分析を可能にします。SEMICS Opus II Proberには、真空マイクロプロービングシステムが内蔵されており、接触操作を最小限に抑えた高精度のプロービングとイメージングが可能です。このユニットには、電気信号のリアルタイム監視と接触力の監視のための高度なソフトウェアが組み込まれています。オプションのオートカリブレーション機能により、プローバの力測定機のサーマルドリフトを監視および調整できます。このツールは、データロギングと可視化された分析機能を備えた強力なデータ取得および分析機能も提供します。分析機能により、平均、標準偏差、ヒストグラムなどの統計データ、および接触性能パラメータを詳細に分析できるカスタマイズ可能なグラフィカルツールを検査できます。Opus II proberには、信頼性の高いプローブカード交換機能と直感的に設計されたGUIも搭載されているため、操作が簡単です。SEMICS Opus IIは、半導体デバイスと集積回路のテスト、特性評価、デバッグを行うための効率的で精密なツールです。その高度な機能とオプションにより、さまざまな産業および研究アプリケーションに適しており、最高レベルのパフォーマンスを保証します。