中古 SEMICS Opus II #293644080 を販売中

SEMICS Opus IIは、高度なウェーハ検査の要求の厳しい要件のために特別に設計されたプローバです。プローバは、高精度の動きと流体制御、高度なイメージングおよびオートメーション機能を内蔵しています。1mmのサイズから、直径12インチのサイズまで、幅広いウエハサイズに対応できます。また、0。05ミクロンまでの欠陥を検出できる統合ビジョンシステムを備えており、最も複雑なナノ構造を検査するための信頼性の高い正確なツールです。プローバは、自己完結型オペレーティングシステムとユーザーフレンドリーなグラフィカルインターフェイスで動作し、簡単で効率的なウェーハ検査を可能にします。サンプルシフトや位置決めが可能な調整可能なステージを備えており、信頼性の高いウェーハアライメントと位置決めが可能で、正確な検査が可能です。また、各サンプルの測定位置に迅速かつ正確なナビゲーションを提供する専用のアライメントおよびステアリングシステムを備えています。プローバーは、非常にシャープな解像度とさまざまなコントラストと感度を利用した強力なイメージングシステムを備えており、ミクロンスケールの特徴を正確に検証できます。そのフルスペクトル照明と高度な光学系は、検査されたウェーハの立体的な画像を提供し、ウェーハの欠陥に対する比類のない洞察を提供します。また、プローバーにはFOUP（前開きユニファイドポッド）が内蔵されており、安全で信頼性の高いサンプル処理が可能です。また、CCDカメラ、LCDタッチスクリーン、統合サーマルコントローラを搭載し、信頼性の高いデータ取得と再現性の高い結果を提供します。Proberには、サンプル処理と分析を管理および自動化するいくつかのソフトウェアプログラムも含まれています。これらのプログラムには使いやすいプログラムエディタが含まれており、カスタムデータコレクションプロトコルの迅速な作成と統計データ分析の自動化が可能です。Opus IIは、高度なウェーハ検査に最適なツールであり、高度なナノテクノロジーに最も信頼性の高い正確なウェーハ検査機能を提供します。信頼できるウェーハ検査のための完全自動化されたハイスループットソリューションを提供し、ウェーハ検証、欠陥解析、プロセス評価、製品開発に最適です。