中古 SEMICS Opus II #293606570 を販売中

SEMICS Opus IIは、多様な半導体デバイスの電気パラメトリックをテストするためのフルファンクションプローバです。Proberの機能には、精密なモーションコントロール機能、インテリジェントテスト機器、自動プロービングおよびモード選択、およびウェハーマッピング機能が含まれます。強力なモジュラー設計により、Opus II proberは、幅広いデバイスパラメトリックテストアプリケーション用に簡単に構成および再構成できます。SEMICS Opus IIは、0。5 μ mまでの精度で精密なモーションコントロールを備えています。これにより、マルチサイトテスト構造の正確な位置決めとプロービングが可能になります。また、デバイスの位置を正確に特定し、高速プロービングを実行するための高度なウェハマッピング機能を備えています。プローバは、ハイスループットテストプロトコルと組み合わせることで、1時間あたり最大25ウェーハの高い生産性を実現します。ユーザーフレンドリーで直感的なプロバーインターフェイスにより、簡単なプログラミング、実行、テストの設定が可能です。また、T&BやNAKED TTLなどの幅広いテストプロトコルもサポートしています。内蔵のオートメーションシステムにより、テストのセットアップと実行手順がさらに簡素化され、柔軟性が向上します。このユニットは、自動的にプローブタイプを検出するだけでなく、特定のテストアプリケーションに応じて正しいプロービングモードまたは動作プロトコルを選択することができます。さらに、Opus II proberには、堅牢なデータ検証、分析、およびストレージ機能が装備されています。マシンはテスト後に生成されたデータを保存し、調整可能なUIを使用して後で検証と分析を行うことができます。テスト、結果、およびプログラムファイルはすべてproberのメモリ内にバックアップされ、他のシステムとのデータ転送や共有が容易になります。SEMICS Opus II Proberは、今日の半導体デバイスメーカーのニーズに合わせて設計された信頼性の高いフル機能の試験装置です。優れた性能と汎用性を備えたオペレーティングツールにより、Proberは高精度のウェーハテストに最適で、お客様のデバイス品質保証プロセスに信頼性とコスト効率の高いソリューションを提供します。