中古 SEMICS Opus II #293586055 を販売中

SEMICS Opus IIは、半導体チップの電気特性をテストおよび測定するためのプローバです。これは、可能な限り最高の精度と精度で、信頼性の高い電気試験と半導体チップの測定を提供するように設計されています。単一のテープまたはフィルム、または多層基板上に配置されたさまざまな種類の個々のダイの正確なテストを提供することができます。Opus IIは、RF非接触、UHV、 XPS、 WDXなどのさまざまな技術を使用して、非接触プローブとパターニングおよびウィンドウソリューションを備えたウェーハのセットをテストします。この装置は、小さな領域と広い領域にわたって高精度な測定を提供するように設計されています。非接触プロービングを使用すると、チップの非接触試験が可能になり、半導体チップの表面または機械的損傷のリスクを低減できます。また、接触領域と潜在的なアーク領域を最小限に抑えることにより、アライメントのずれや表面汚染のリスクを低減することができます。SEMICS Opus IIは、SINGLS （Single and Large Surface）プロービングシステムを搭載しており、非接触および接触ベースの技術を組み合わせてプローブをテストしています。このユニットは、複数のサンプル層とウェーハの並列プロービングを可能にし、より正確で効率的なテストを可能にします。さらに、ウェーハの自動サンプリングとローディングを可能にする自動ウェーハハンドリングツールを備えています。このアセットはまた、修正されたフレームを使用して最大3つの異なるサイズのサーフェスをテストし、より正確で迅速なテストを可能にします。Opus IIには、半導体チップの電気特性を分析および評価するための包括的なツールを提供する統合解析スイートがあります。このスイートには、スペクトル、スペクトルイメージング、測定解析ツールなどの機能が含まれており、これらはすべて半導体チップの電気特性を決定するために使用できます。さらに、このモデルはトレース表示を提供しており、ユーザーは測定値をすばやく分析し、結果を分析することができます。SEMICS Opus IIは、半導体チップの電気特性をテストおよび測定するための汎用性と強力なプローバです。高精度、高精度の半導体チップの信頼性の高い試験と測定を提供するように設計されています。この装置には、自動ローディングおよびテスト機能、ならびにデータ分析および評価のための統合分析スイートも備えています。このシステムは複雑な試験アプリケーションに適しており、高度な試験要件に最適です。