中古 QMC DPS 600 #9315237 を販売中
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ID: 9315237
ウェーハサイズ: 6"
ヴィンテージ: 2011
Die prober, 6"
Chip size: 300 um x 300 um - 1,500 um x 1,500 um
Typical cycle time: 0.21 Sec / Chip
(10) Wafer cassette slots
BIN Cassette slot: 64 BIN
Sorting accuracy (X, Y-Axis): ±30 um
Sorting accuracy (Theta Axis): ±3°
Sapphire, 4"
2011 vintage.
QMC DPS 600は、半導体試験およびウェーハプロービング用に特別に設計されたプローバです。精度と柔軟性を兼ね備えており、高いスループットスキャン機能と広範なオートメーション機能を提供します。DPS 600は、完全に自動化された信頼性の高いデバイス・テストにより、最大8インチのウェーハをスキャンする能力を備えた完全自動ウェーハ・プローバです。ベンチトップと生産テストの両方のために設計されており、究極の柔軟性と生産性を提供します。QMC DPS 600は、600を超えるダブルサイトプロービングステップの優れたスループットを示す高速スキャンを備えています。最大8インチウェーハのスキャン範囲により、デバイスの特性評価と高スループット試験に幅広い精度と再現性を提供します。DPS 600は、高速試験用に最大200cm/秒のスキャン速度が可能です。プローバーにはロボット機構も装備されており、高スループット処理に対応し、より大きなデバイスへのアクセスを可能にします。ガントリーロボットは、さまざまなウェーハサイズの迅速な位置決めを容易にし、優れた再現性の精度を実現する精密な組み立て治具システムを採用しています。また、デバイスのさらなる特性評価のための自動ダイマッピング機能も備えています。QMC DPS 600は最大40mmまでのガラスキャリアでの試験も可能です。それはまた液体の管理された分配を可能にする需要の上昇ピンの低下と交差汚染を除去するのを助けます。このユニットには、簡単なカスタマイズのためのグラフィカルユーザーインターフェイス、SPCおよびOQCテスト、およびATEシステムまたはユーザー制御フロントエンドシステムにリンクするためのデータインターフェイスなど、包括的な一連のソフトウェアが付属しています。また、デバッグとプロセス開発を容易にするリアルタイム同期システム監視も提供します。いずれにせよ、DPS 600は効率的で完全に自動化されたウェーハプローバであり、高速スキャンと徹底したデバイステストのための広範な自動化を提供します。正確で信頼性の高いハイスループット試験結果を達成するための理想的なツールです。
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