中古 MULTIPROBE MP1 #9118406 を販売中
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ID: 9118406
ウェーハサイズ: 12"
ヴィンテージ: 2006
Atomic Force Prober (AFP), 12"
Micro probing transistors
(3) Probe heads
Probing enclosure
Electronic rack with controllers for heads
Optical microscope
PC
Includes:
Semiautomatic stage
Optics and probe head control
2006 vintage.
MULTPROBE MP1は、幅広いテストアプリケーション向けに設計された自動化された高精度ウェーハプロービング装置です。それは小さい接触を調査するために適した100mmモーターを備えられたナイフの端の直角の調査アセンブリおよびより大きい接触を調査するための200mmのスロットナイフの端の円筒形の調査が装備されています。このユニットには、レーザー/フォトマスク、静電容量センサー、ピンセット計測システムの3つの計測システムがあり、ウェーハ全体にプローブを正確に配置できます。また、高度な顕微鏡システムと、接点のサイズ、形状、向きを測定するためのさまざまな開発プロトコルを備えています。MP1に強力なソフトウェアおよびハードウェア機械と結合されるプログラム可能なインターフェイスがあり、それはさまざまな高精度のテストアプリケーションに使用することを可能にします。フレキシブルなメモリ、光学および光機械式プローブのフルスイート、高度なパターニング機能により、従来の手動テストのほんのわずかな時間で複数のウェーハプローブのテストサイクルを完了できます。このツールは、2µmまでの解像度を達成することができ、10MHzまでの複数の周波数でテストすることができます。MULTPROBE MP1は、高密度プリント基板の効率的な製造またはワンオフ設計のために設計されています。組込みプログラミングにより、生産試験、実験室試験、高度な故障解析など、さまざまなシナリオでユニットを使用できます。このユニットは、光学、RF、パワーデバイスなどの高精度、高速、再現性を必要とするアプリケーションに適しています。単位にまた位置および長さが正確であることを保障する作り付けの計量学システムの範囲があります。MP1の超精密ウェーハプロービング機能により、ラボまたは工場の両方で集積回路をテストするのに最適なソリューションです。堅牢な設計、超精密なプロービングのヒント、柔軟なハードウェアとソフトウェアにより、あらゆるテストアプリケーションで信頼性が高く費用対効果の高いソリューションとなります。
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