中古 ELECTROGLAS / EG 4090u #9252927 を販売中

ELECTROGLAS/EG 4090u proberは、半導体ウェーハやその他のデバイスの電気特性を測定するように設計された完全自動試験ステーションです。この試験装置は、むき出しと完全に組み立てられたデバイスの両方をテストすることができ、試験セットアップと測定を迅速かつ効率的に行うように設計されています。EG 4090uは、超高解像度、高速デジタルイメージングシステム（DIS）を搭載しており、最小の半導体デバイスでも電気特性を正確に検出および測定することができます。このDISは、レンズの配列だけでなく、電気信号を拡大して記録する高解像度充電結合デバイス（CCD）を備えています。この技術は、プローバーがデバイスの電気性能の細かい詳細を測定するのに役立ちます。ELECTROGLAS 4090 Uは、試験針と試験中の装置との接触時間を最小限に抑えるように設計されています。これにより、デバイスの摩耗および破損による損傷のリスクが軽減されます。さらに、プローバーは真空/流動補償を使用して、高湿度環境でのパフォーマンスを向上させます。この技術は、デバイスの電気性能が周囲の大気の影響を受けないことを保証します。4090uは高精度で信頼性の高いテストデバイスで、さまざまなレベルの複雑さでテストジョブを処理できます。MEMS、 RF、 CMOS、光学センサなど、さまざまな技術を備えたデバイスだけでなく、大小のウェーハでもテストと測定を行うことができます。プローバには、テストテンプレートのライブラリが内蔵されているほか、将来使用するためのテストパラメータと結果を保存する機能も備えています。プローバの自動テスト機能に加えて、4090 Uは使いやすいユーザーインターフェイスを備えており、オペレータはテストパラメータを素早く設定できます。これには、カスタマイズされたテストシーケンスと測定グリッドを設定して、テストプロセスをより制御する機能が含まれます。Proberには、トラブルシューティングのためのさまざまな診断ツールや、さらなる分析のためにデータをエクスポートおよびインポートする機能もあります。全体として、EG 4090 Uは、最小の半導体デバイスでも測定できる強力で信頼性の高い試験装置です。その高度なデジタルイメージングシステムと真空/流体補償は、あらゆる環境でデバイスを正確かつ確実にテストする上で非常に重要です。テストテンプレート、高度なユーザーインターフェイス、データエクスポート/インポート機能を内蔵したこのプローバは、テストプロセスが効率的で生産的であることを保証します。