中古 ELECTROGLAS / EG 4090u #293606469 を販売中

ELECTROGLAS/EG 4090uは、集積回路デバイスの試験および分析に使用されるプローバです。ウェーハの高速プロービングやダイレベルデバイス試験用に設計されています。例えば4090uはユーザーが正確な測定結果を得るために圧力、力、および速度のような複数の変数を操作することを可能にします。ELECTROGLAS 4090 Uは、高速、高精度プロービングの測定に使用できる高速XYスキャナを備えています。ELECTROGLAS 4090uは、最大400Hzのスキャンサイクルレートを備え、デバイスの高速テストを可能にします。また、デバイスの欠陥を自動的に検出し、テスト中のデバイス（DUT）とプローブチップ間の一貫した接触圧力を維持するクローズドループZ軸オートフォーカス装置を備えています。これにより、デバイスの位置を手動で調整することなく、得られた測定結果が正確であることが保証されます。ELECTROGLAS/EG 4090 Uには、機械部品による振動を最小限に抑えることで測定誤差を低減する大型のダイレベルマイクロノーブル補償システムがあります。また、SPC （Statistical Process Control）機能を備えており、ユーザーはプロセスの変化を確認し、テスト前にデバイスの潜在的な欠陥を検出することができます。4090 Uには、Calibrate Alignment Machine （CAS）と呼ばれる特許取得済みのアライメントユニットがあり、プローブとテスト中のデバイス間のアライメントを可能にします。CASはまた、より正確なアライメントを確保するのに役立つ2次元アライメントツールを備えています。さらに、CCD（充電結合デバイス）イメージセンサーは、アライメントプロセス中のダイのより良いビューを提供するのに役立ち、ユーザーはプローブとデバイスをすばやく揃えることができます。EG 4090 Uは、テストサイトに存在しない場合でも、ユーザーがテストプロセスを追跡および分析できるリモート診断アセットを備えています。これにより、プローブに関連する問題を迅速に特定して解決することができます。4090uに人間工学的に設計されていたパネルがあり、ユーザーが最小限の努力でproberを作動させることを容易にします。ユーザーパネルにはWeb対応のユーザーインターフェイスがあり、ユーザーは既存のプロトコルまたは設定を確認、表示、新規作成、または変更できます。結論として、ELECTROGLAS/EG 4090uは高速で高精度なプロービング用に設計された高度なプローバモデルです。特許取得済みのアライメント装置、CCDイメージセンサー、遠隔診断システム、人間工学に基づいて設計されたパネルにより、EG 4090uは集積回路デバイスに正確で信頼性の高い測定結果を提供します。