中古 ELECTROGLAS / EG 4090u #293603731 を販売中

ELECTROGLAS/EG 4090u Proberは、集積回路ダイおよびウェーハ上のデバイスの検査および測定に使用される高度な機器です。高速、高精度、再現性を兼ね備えており、最も複雑な半導体デバイスでも正確で信頼性の高い試験が可能です。EG 4090u Proberは、圧電真空技術とプローブ先端技術のユニークな組み合わせを使用して、高密度コレットパッケージでプローブに接触します。これにより、接触時間の高い再現性と一貫した接触力が保証され、高速プロービングと正確なデータの迅速な取得が可能になります。ELECTROGLAS 4090 Uは、幅広いテストパラメータを提供し、さまざまなデバイス形状や回路に対応できます。スイープ周波数、電圧範囲、電流、周波数変調、抵抗などのパラメータはすべてユーザーが制御できます。さらに、EG 4090 Uは、自動校正、再現性検証、およびプロバーサイトテストなどの複数の校正技術をサポートしています。さらに、ウェハスクライビング前にチップ上のテスト構造を評価する機能を提供し、デバイスの特性評価を迅速かつ正確に行うことができます。ELECTROGLAS/EG 4090 U Proberは非圧縮データストレージシステムも提供しており、ユーザーはテスト結果を保存して将来の使用のために保存することができます。さらに、リアルタイムのデータ監視機能により、ユーザーはリアルタイムでテストのパフォーマンスを監視し、必要に応じて調整することができます。4090 U Proberは、さまざまな特殊工具を装備し、優れたデバイス性能と正確な試験結果を保証します。その多軸エンコーダ、水平ドライブモータと高解像度1000ピクセルビデオ認識器は、直感的な制御をユーザーに提供します。4090u Proberは、その包括的なプローブに加えて、高解像度のバックプレーン、精密ステッピングモーター、Hot Linkキャリブレーションプログラム、およびいくつかの専門ソフトウェアパッケージなど、さまざまな機能も提供しています。これらの機能により、ELECTROGLAS 4090u Proberを使用して、試験結果を迅速かつ正確に生成および分析できます。全体として、ELECTROGLAS/EG 4090u Proberは、集積回路ダイおよびウェーハ上のデバイスの検査および測定に使用される高度な機器です。これは、ツールと機能の完全なセットを提供し、高速および精度クリティカルなテストやアプリケーションに適しています。