中古 ELECTROGLAS / EG 4090u #293593048 を販売中

製造業者
ELECTROGLAS / EG
モデル
4090u
ID: 293593048
ヴィンテージ: 2016
Prober Chuck type: Nickel, 8” Temperature: 35°C-130°C Scrub pad: Standard OCR: EG OCR Camera 2016 vintage.
ELECTROGLAS/EG 4090uは、スタンドアロンまたは自動テストに使用できるパラメトリックテストプローバです。これは、手動、ステップ、自動化されたテスト機能を可能にするユニークな設計を備えています。EG 4090uは完全に統合されたダイソートテストソリューションで、大容量の電気パラメータ試験機能と完全なパッケージとしてのダイセレクタを組み合わせています。ELECTROGLAS 4090 Uの主成分は、自動ウェハレベルのプローバです。最大ウエハ径200mm、直径100mmのポケットを備えたプラットフォームです。シリコンまたは薄膜の幅広い基板を確実に選択して配置するように設計されています。プローバは、3次元プロービングのためのビジョン補助アライメントとオプションで構成することができます。また、誤った拒絶と大幅な利回りを最小限に抑えるように設計されています。EG 4090 Uは、薄膜トランジスタ(TFT)および補完的な金属酸化物半導体(CMOS)デバイスを自動ダイセレクタを使用してテストし、デバイスの電子インターフェイスを操作するように設計されています。このプローブは、フラッシュ、静的RAM (SRAM)、動的ランダムアクセスメモリ(DRAM)、パワー半導体デバイスなどのメモリデバイスのテストにも使用できます。自動テスト機能とコンピュータ制御のデータ取得および分析機能により、正確なテストが保証されます。ELECTROGLAS/EG 4090 Uには、計測技術とインタフェースのスイートもあります。また、デバイスや回路の特性評価、データ分析に役立つ強力なソフトウェアツールも装備されています。このツールは、パラメトリックテストとデバイスの特性評価に役立つ情報を提供します。4090 Uは、さまざまなテストアプリケーションの広い範囲でパラメトリックテストカバレッジが可能であり、手動および自動テストの両方に使用できます。これは、トータルテスト時間の短縮に加えて、高い収率と改善された規則性を提供する効果的なプロバーソリューションです。
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