中古 ELECTROGLAS / EG 4090 #9070789 を販売中

ELECTROGLAS 4090 Proberは、半導体自動試験装置（ATE）です。半導体デバイスの高速測定および電気試験、オンウェーハプロービング、ウェーハソート、および詳細なデバイス特性評価を統合するために設計されています。プローバは、1〜4インチの範囲のXY位置決めテーブルを内蔵しており、デバイスまたはサンプルをテスト位置に簡単かつ正確に配置できます。さらに、プローバはアクティブな電子アライメントを使用してデバイス配置を高速かつ正確にし、さらにアライメント精度を高めるAutoscan機能を備えています。4090 Proberには4チャンネルのアナログおよびデジタルテスト回路が内蔵されているため、ウェハI/Oおよびデバイス性能の迅速で一貫した信頼性の高いテストが可能です。プローバーにはウェーハチャックも含まれており、プローバーとテスト中のデバイス間の自動接触保護と機械的な電気絶縁を提供します。ELECTROGLAS 4090 Proberは、豊富なプロセス制御および分析ツールを備えています。これにはAutoselectとAutograph機能が含まれており、歩留まり、トレンド、パフォーマンスパラメータを監視しながら、デバイスの自動選択とグラフィカルウェーハディスプレイを可能にします。また、Proberには統計解析機能が内蔵されており、数百のテスト結果のデータ相関と分析をわずか数ステップで行うことができます。さらに、4090 Proberは直感的なグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）を提供します。GUIを使用すると、proberの機能とコマンドをすばやく学習し、テストを迅速かつ正確に実行できます。Proberはまた、ユーザーが独自のプローブプログラムを迅速に開発するための幅広いリソースとツールを提供しており、カスタマイズされたスクリプトは後で再利用するためにライブラリで整理することができます。全体として、ELECTROGLAS 4090 Proberは、半導体デバイスの高速測定および電気試験に最適なツールです。便利で正確なオンウェーハプロービング、ウェーハソート、デバイス特性評価機能、直感的なプロセス制御および分析ツールが統合されています。Proberは、ユーザーとエンジニアの両方に、半導体デバイスを迅速かつ正確にテストするための強力で効果的なソリューションを提供します。