中古 ELECTROGLAS / EG 4090 #293769648 を販売中

ELECTROGLAS 4090は、プロービング精度と効率を向上させるために設計された高性能の半導体プローバです。このプローバは、ICプロービング、ウェーハプロービング、コンタクトテストおよびマッピングに最適な、大きな検査可能領域を備えています。4090は多種多様なアプリケーションに最適なプローバーです。ELECTROGLAS 4090には、垂直および水平の動作機能を備えたデュアル軸、高精度ナノメートル分解能X/Yステージが装備されています。これにより、サンプルの正確な位置決めとスキャンが可能になり、高速かつ正確になります。プローバーには高速スキャンと高速スキャンとアライメントのための機器を求めることもできます。プローバーには、プログラム可能な垂直モーションコントロールも装備されており、自動化と精度の向上を可能にします。4090は、小さなフットプリントで高速、高スループット、再現性のあるパフォーマンスを実現するように設計されています。Proberはクローズドループ補償を備えており、サンプリングエラーを最小限に抑えて再現可能です。これにより、校正と修理の必要性を最小限に抑えながら、プローブ精度と速度が最大化されます。ELECTROGLAS 4090には、ウェハ自体のエロダイナミック力を検出および測定するために使用されるMEMS加速度計も内蔵されています。これにより、最適化されたプロービングおよび制御システムと高速なデータ取得が可能になります。プローバーはまた、効率的なチップ処理と信頼性の高いサンプル保持のために、統合された磁気シールド付き真空システムを備えています。これは、汚染やサンプル損傷のリスクを最小限に抑えた信頼性の高い試験に不可欠です。4090はまた精密な、高い定義イメージ投射のための高解像度の光学検査の単位が装備されています。これは、汚染や損傷のリスクなしに、サンプルのトポロジの詳細な概要を提供します。これにより、精密な欠陥解析が可能となり、試験結果の精度が向上します。ELECTROGLAS 4090はまた、正確な温度制御と監視を提供し、重要なテストやアプリケーション固有のタスクに最適です。これにより、試験中にサンプルが常に最適な温度にあることを保証し、エラーを最小限に抑え、精度を向上させます。全体的に4090は信頼性が高く堅牢なプローバーであり、正確で迅速かつ反復可能なパフォーマンスを提供します。その機能により、ICプロービング、ウェーハプロービング、接触試験など、さまざまなアプリケーションに最適です。クローズドループ補償とMEMS加速度計は、安全で正確な試験体験を保証します。高速スキャンとシークマシンは、最も信頼性が高く効率的な半導体プローブの1つです。