中古 ELECTROGLAS / EG 4090 #293606437 を販売中

製造業者
ELECTROGLAS / EG
モデル
4090
ID: 293606437
ウェーハサイズ: 6"-8"
Wafer prober, 6"-8" OCR Standard chuck Ambient temperature.
ELECTROGLAS/EG 4090は、半導体デバイスの自動、高速、および高速のプロービング用に設計されたプローバ製造テストソリューションです。8mil〜1mmピッチの多種多様な半導体デバイスの試験が可能で、高密度MEMSや光学素子にも対応しています。プローバーには自動X-Y-Zステージがあり、テスト中のプローブとデバイスの正確なアライメントが可能です。Zスライダー付きデュアルアームロボットハンドラは、高速なテストサイクルを可能にし、さまざまなウェハレベルのプローブと構成をサポートします。また、高度なユーザーインターフェースコントロールとグラフィカル分析ツールを備えているため、ユーザーはテスト構成をカスタマイズして効率的に管理できます。フラットパネルディスプレイプラットフォームは、簡単なデータの表示と分析を可能にします。EG 4090は独自の校正システムを使用して、プローバのX/Y/Zの動作パラメータを監視および調整し、テスト中に高精度で再現性を提供します。このユニットはまた、高度な電流モニタリングを使用して、効率的で信頼性の高い正確なプロービング結果を保証します。さらに、自動対角線機能により、位置ずれのエラーが排除され、正確なプロービングとテストが保証されます。内蔵のデュアルアームロボットハンドラは、ダイレベルとウェハレベルの両方のテストに高速なデバイス処理とロードを提供します。また、安全なウェハハンドリングと高速試験を保証する真空グリッピングマシンも備えています。最後に、プローバには自動テストステータスツールが装備されており、テストプロセスを監視し、簡単にトラブルシューティングできます。全体として、ELECTROGLAS EG4090 proberは半導体デバイス試験ソリューションの主要な進歩であり、信頼性が高く、正確で迅速なテストサイクルをユーザーに提供します。幅広いデバイスのテストが可能で、直感的なユーザーインターフェイスを提供し、テスト構成を効率的に管理できます。
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