中古 ELECTROGLAS / EG 4090 #293589322 を販売中
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ID: 293589322
Prober
Commander version: DOS EGC 7.3.8
DCM Version: DCM 2
VM Alignment system
DPS Camera
Z-Stage: 0.25
Chuck material: Nickel
Chuck type: Hot
DPS Camera
Material handler module
Display control module
Prober control module
Vision module
OCR Camera
Bridge camera: COHU
1999 vintage.
ELECTROGLAS/EG 4090 Proberは、半導体デバイスの高精度プロービングとテストを提供するために、EGによって設計された最先端のパラメトリックテストソリューションです。この装置は、効率的で信頼性の高いデバイス検証を提供するように設計されており、高いTIV接続とパッケージを備えたデバイスをテストすることができます。システムは、ユーザーが単一のプラットフォームでさまざまなデバイスをテストすることができ、省スペース設計を備えています。デバイスの電気特性を検出して反応する電磁プローブを搭載し、高精度な試験が可能です。このユニットは、高電流テスターヘッド、およびデュアル周波数テスターヘッドを備えたコンポーネントをテストすることができます。高電流テスターヘッドは、最大500Vdc/ 1Ampのテストを可能にする印象的なパワーレンジを備えています。デュアル周波数テスターヘッドには、DCとAC周波数の両方が含まれており、デュアルモードテストが可能です。EG 4090 Proberはまた人間工学に基づいた変数無限制御機械を含んでいます、それは速い操作を可能にし、ほぼ完全なテスト結果を提供します。最新の半導体デバイス技術と正確で再現性のある試験結果を統合しています。さらに、このツールは複数のデバイスを同時にテストし、信頼性、精度、再現性を提供できるため、テスト時間を大幅に短縮できます。このアセットは、IEEE、 GPIB、およびイーサネットなどのさまざまなインターフェイスと互換性があり、柔軟性と幅広い通信オプションを提供します。ELECTROGLAS EG4090 Proberはまた、高度な安全機能を通じて保証されているテスト中に最高の安全基準を提供するように設計されています。これらの機能には、一連の安全インターロックシステム、過電圧保護、および高電流保護回路が含まれます。最後に、モデルには、特定のタイプのデバイスのテスト体験をカスタマイズおよび最適化するために使用できるプロービングおよびテストアプリケーションの広範なライブラリも付属しています。また、リモートワークステーションから機器を調整してプログラムすることもでき、便利なテストが可能です。
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