中古 ELECTROGLAS / EG 4085 #293808892 を販売中

ELECTROGLAS/EG 4085は、EG Corporationによって製造されたプローバーです。集積回路（IC）の試験に使用される2次元超高精度プローバです。装置は手動および完全に自動化されたモードで作動でき、サイズの7。5mmによって7。5mmまで破片を調査することができます。システムのコアコンポーネントには、スキャナ、サーマルヘッド、オートウェーハ処理ユニットが含まれます。このスキャナは、高精度のXおよびYリニアモータによって駆動されるリニアスキャナ設計です。それは正確さ、速度および決断の点で最もよい性能を提供するように設計されています。用途に応じて、接触試験と非接触試験の両方に使用できます。スキャナの解像度は1ミクロンまでです。熱頭部は精密な接触力の制御を提供するように設計されています。各チップに独立した独立した圧力制御を備えたデュアルチップ設計です。サーマルヘッドはスキャナーと連動して、接触プローブのチップをテスト中のデバイスに正確にアライメントすることができます。自動ウェハハンドリングマシンは、信頼性の高いウェハローディングとアンロードを提供するように設計されています。ウェーハおよびデバイスパッケージの広い範囲と互換性があるように設計されています。最大300mmのウェハサイズで、ロットあたり10個までのウェハ処理が可能です。このツールはまた、効率的なテストプログラムの開発と運用を可能にする高度なソフトウェア機能を統合しています。高温および低温の測定、精密マルチサイトテスト、高速テスト、欠陥解析など、さまざまなテスト戦略をサポートしています。また、GPIB、 Ethernet、 Serial/RS-232などの標準的なDUTインターフェイス制御モダリティとも互換性があります。EG 4085は、最も複雑なICのテストに適した汎用性と信頼性の高い資産です。半導体やデバイスの特性評価、故障解析、デバイスエンジニアリング、大量生産試験、モデル性能最適化などの用途に最適です。