中古 ELECTROGLAS / EG 4060 #9402441 を販売中

ELECTROGLAS/EG 4060は、高度な半導体デバイスの精密で高品質なプロービングと試験プロセスを実行するように設計された半導体プローバです。フロントサイドダイプロービング、ウェハマッピング、フリップチッププロービング、アレイプロービングなど、さまざまなテスト要件を満たすように構成できるモジュラープローバです。ウエハサイズは200mmまで対応可能です。ベース機器には、動くXYテーブル、プロバーヘッド、高解像度のXYモーションコントローラが備わっています。XYテーブルを正確に動作制御するためのクローズドループ動作システムを備えており、プローブカード、ウェーハ、およびその他のコンポーネントを正確に配置できます。静電気放電（ESD）を防止するエアカーテンユニットを内蔵しています。エアヒーティングマシンは、アクティブ領域で最大450°Cの温度を維持します。EG 4060 proberには、プロービングプロセス全体を制御する強力なプロセスマッピングソフトウェアもあります。このソフトウェアは、テストパラメータと自動テストプロシージャの大規模な選択を提供します。プローブプロセス中に素早く設定できる最大1000個のパラメータを格納できます。ウェーハや部品の高速スキャン、高速接触閉止、高速座標照会が可能です。このツールは、ANSI/IEC 61010-2/3/4に準拠しています。校正のためのISO 17025要件を満たし、NEBS認定の設計要件を満たしています。また、プローブ接触精度を向上させるための高度な容量性センシングアセットも備えています。ELECTROGLAS 4060プラットフォームは、コア機能に加えて、特定のアプリケーションのモデルをカスタマイズするために使用できるさまざまな周辺機器やソフトウェアオプションをサポートしています。オプションには、プログラム可能な液体ディスペンサー、光学顕微鏡、デジタルイメージキャプチャカメラ、レーザースキャニングシステムなどがあります。全体的に4060は、あらゆるテスト要件を満たすように構成できる強力で信頼性の高いプローバです。多種多様な半導体デバイスの精密なプロービングおよびテスト用に設計されており、試験および測定ニーズに最適なソリューションをユーザーに提供します。