中古 ELECTROGLAS / EG 2001X #9398570 を販売中

ELECTROGLAS/EG 2001Xは、半導体テストおよび分析アプリケーションで使用するために設計された多機能プローバです。このプローバは、ファインピッチリードを含む集積回路の電気試験やプロービング、X線断層撮影を含む物理プロービングなど、幅広い機能を提供します。EG 2001 X proberに試験片を迅速かつ正確に配置するために使用できるカスタマイズ可能な高速多軸ステージがあります。プログラム可能なグラフィカルユーザーインターフェイスを使用して、ユーザーが希望する位置を正確に設定できます。プローバーには、信頼性の高いプロービング結果を保証するための優れた電気接触を提供するユニークな容量性移動ヘッドがあります。ピエゾ駆動のウェーハレベラーを使用して、プローブする前に試料を平準化します。また、ウェーハレベラーは、試験現場とプローブのチップ間の接触を強化します。proberはテストのための機械に便利に荷を積むことができる8つまでテストカードを収容するように設計されています。高解像度CCDカメラと画像処理機能を搭載しており、撮影した画像を操作して解析に適しています。また、プローブとテストサイトの詳細な画像を提供する光学顕微鏡を備えており、より正確なプロービングを可能にします。また、故障解析用に試験現場のサブピクセルレベルの画像を生成できる高速走査型電子顕微鏡を搭載しています。ELECTROGLAS EG2001X proberシステムは、通常、Agilent 9500シリーズやGSI-MicroTec MMC-9000などの特殊ウェーハプローバと組み合わせて使用されます。また、チラー、温度/圧力コントローラ、データ収集/解析システムなどのテストハンドラやその他の周辺機器にも使用されます。さらに、ユニットはパワーアップし、集積回路やサブアセンブリをテストすることができます。ELECTROGLAS/EG 2001 X proberは、半導体デバイスのテストおよび分析要件に適した汎用性の高いツールです。高度なハードウェアとユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイスの組み合わせにより、信頼性の高いプロービングとテスト結果を提供することができます。さらに、マシンは、迅速なセットアップとテストだけでなく、簡単なメンテナンスとアップグレードのために設計されています。このツールは、あらゆる半導体デバイスのテストおよび分析アプリケーションに、強力で費用対効果の高いソリューションを提供します。