中古 ELECTROGLAS / EG 2001X #9383376 を販売中

製造業者
ELECTROGLAS / EG
モデル
2001X
ID: 9383376
Semi-automatic wafer probers.
ELECTROGLAS/EG 2001Xは、オプトエレクトロニクスおよび半導体試験に使用するために特別に設計された高性能ウエハプローバです。それは0。3mmから1。6mmまで及ぶサイズのチップセットそしてパッケージをテストすることができます。プローバは、機械式テーブルと2つの独立したスキャン軸、高速スキャン(0。5mmピンで駆動)および遅いスキャン(光学表面スキャナで制御)で構成されています。これにより、プローバは広範囲の測定と高密度サンプリングのための画像を生成することができます。EG 2001 X proberには、高感度キャパシタンス検出システムが搭載されています。これにより、最大40万個のサーフェスポイントをスキャンでき、精度と解像度、再現性が向上します。静電気チャッキングシステムにより、最小金型でも安全に保持でき、正確な測定が可能です。プローバは、プラスまたはマイナス10%の精度で、抵抗と静電容量を測定することができます。ELECTROGLAS EG2001X proberは、手動またはソフトウェアを使用して操作できます。手動操作のために、プローバーはフットペダルを使用するか、または単にボタンを押すことによって作動させることができます。ソフトウェアオートメーションの場合、ProberはPro Scope、 Pro Multi Gage、 Pro Xact SPCソフトウェアと互換性があります。このソフトウェアは、結果の監視と検索にも使用できます。2001Xには直感的なユーザーインターフェイスがあり、操作が簡単です。プローバーには加熱プレートも備えており、熱伝達効率の向上とメサ地形検出の改善が可能です。プローバーにはカメラが内蔵されており、目視検査が可能です。また、高インピーダンス測定、R-C測定、エアギャップ測定など、さまざまな測定機能を提供します。全体的に、ELECTROGLAS/EG EG2001Xは、優れた性能と精度、および包括的な機能セットを提供する高度なウェーハプローバです。オプトエレクトロニクスおよび半導体試験のための汎用性と信頼性の高いツールであり、その効率と使いやすさのために業界で広く使用されています。
まだレビューはありません