中古 ELECTROGLAS / EG 2001X #9375774 を販売中

ELECTROGLAS/EG 2001Xは半導体装置のテストおよびバーンイン操作で使用される高性能のproberです。洗練された欠陥マップ解析装置（DMAS）と統合されているため、基板表面の欠陥位置にすばやくアクセスでき、生産中の分析速度が向上します。プローバは、試験システムとプローバーステーション間で基板を移動するための自動搬送機構を含む柔軟な省スペース設計で構成されています。また、2つのレベルプロービングを可能にするデュアルレイヤーユニットと、1回のテストサイクルでのパーツアウトテストも含まれています。プローバは、X、 Y、 Zドライブを備えたモーションステージを備えており、基板を（Z）試験面に向けて正確に配置することができます。EG2001 Xは、基板の再現性と正確な動きを保証する高度なサーボ位置決め制御機によって駆動されます。これは、エンコーダ、容量性軸受、光学リミットスイッチセンサー、および高精度レーザー干渉計を使用して達成されます。プローバには、スループットを最大化し、テスト時間を短縮するためのテストレシピのビジュアルプログラミングを提供する統合CADツールも含まれています。ELECTROGLAS EG2001Xに使用されるプローブヘッドは、幅広い高周波テスト要件に対応できます。同軸、三軸、ピンセットなど、さまざまなプローブスタイルで設定できます。ヘッドには、プロービング中に微調整を可能にする高度なマイクロポジショナーも装備されています。アセットのもう1つの利点は、自己診断測定プロトコルを使用して最大256個の個別パラメータを制御できることです。EG2001X proberには、テストおよびプロービング操作を強化するための幅広いアクセサリーが付属しています。これらには、部品配送用のSMIFポッド、スルーホール接続用のルーズパーツピン、さまざまなタイプの基板に対応するためのさまざまなタイプのアダプタが含まれます。Proberは、Auto Probe、 Auto Test、 Auto Burn-inなどのさまざまなテストおよびバーンイン製品にも対応しています。全体として、ELECTROGLAS/EG 2001 Xは、正確で信頼性の高い試験結果を保証するように設計された幅広い機能を備えた堅牢なプローバです。半導体デバイスのテストとバーンイン操作に不可欠なツールです。