中古 ELECTROGLAS / EG 2001X #9357361 を販売中

ELECTROGLAS/EG 2001Xは、半導体チップおよび集積回路試験用に設計されたプローバです。このプローバは、電圧、電流、温度、周波数、抵抗、誘導係数、静電容量、電力などのパラメータを測定および分析するために使用できます。複雑な信号経路の高度なプロービング、マルチダイパッケージ用のダイツプロービング、グランドバウンス試験、その他の高度なプロービング方法も可能です。EG 2001 X proberは、さまざまな顧客ニーズを満たすために、さまざまな電気構成で利用可能です。PCとMacintosh互換の両方のプラットフォームを含む業界標準のハードウェアとソフトウェアを使用しています。この装置は、従来の「ベッドオブネイル」プローバーよりも高いスループット、カミソリの鋭い精度、並列テスト機能を提供します。ELECTROGLAS EG2001Xは、デバイス基板上のテストパターンを正確に表示する顕微鏡/ビデオイメージングシステムを搭載しています。この顕微鏡ユニットは、高解像度のカラーカメラと画像処理機能を使用して、小さなワイヤ、チップなどを表示します。この顕微鏡機械はまたピンおよびノードを識別し、見つけ、ノードの正確さおよび方向を確認するのに使用することができます。このツールは、電気光学、音響、赤外線などのさまざまな測定技術を使用して、正確なテストと精度を保証します。信号経路の速度、タイミング、ゲイン、品質などの性能パラメータを確認し、確認するように設計されています。このプローバは、BGA、 SRAM、 DRAM、 EPROM、およびその他の半導体コンポーネントなどの複数のタイプのデバイスのプロービングにも対応しています。EG2001Xはまた診断およびテストの適用の広い範囲を提供します。Windows、 Mac、およびUnixオペレーティングシステムと互換性があり、Quicktest Pro、 ICES、 Pinpoint、 Techworksなどのさまざまな診断ツールをサポートしています。自動車テスター、部品テスター、その他様々な試験環境で使用できます。さらに、このアセットにはマルチサイト機能が含まれており、複数の場所でテストすることができます。ELECTROGLAS 2001X proberは、今日の高性能で高精度な試験要件のニーズを満たすように設計されています。これは、スムーズな動作、高速スループット、およびより正確なテスト結果を可能にする高度な設計を誇っています。このモデルの直感的なユーザーインターフェイスにより、ユーザーは機器を簡単に学習して操作することができ、テストで素早く立ち上がって実行することができます。