中古 ELECTROGLAS / EG 2001X #9282035 を販売中

ELECTROGLAS/EG 2001Xは、集積回路、ディスクリートデバイス、およびハイブリッドをテストするために設計された汎用、高性能、プローバ機器です。これは、EGファミリのプローバに最新の追加であり、フォームファクタが小さく、テスト速度が高速でパフォーマンスが向上します。EG2001 Xは、高いスループットで実行できる完全自動化されたシステムであり、試験において優れた精度と再現性を提供します。ELECTROGLAS EG2001Xは、内蔵のデジタルプロービングユニットと人間工学に基づいたキャビネット設計で構成されています。この機械の内蔵エレクトロニクスは、最大350 kHzのプロービング速度で、より良い試験結果を得るために、より高い接触力の精度を達成することができます。このマシンのモジュール設計により、ベンチトップとラックマウント可能な構成の両方で、試験治具構成の柔軟性が可能になります。これは、迅速な構成変更のための交換可能なプローブを備えており、さまざまなプローブカードに対応することができます。より高い精度の恩恵に加えて、このツールは高いスループットを備えています。2つのテストプローブヘッドは、1つのパスで1000個以上の個々のピンをプローブすることができます。2001Xはまた、ユーザーフレンドリーなタッチスクリーンインターフェイスを備えているため、ユーザーは資産の機能をすばやく学び、理解することができます。これにより、モデルの操作と学習が容易になり、貴重な時間を節約でき、ユーザーはテストと結果の分析により多くのエネルギーを費やすことができます。さらなる効率化のために、試験中の加速度、衝撃、振動を測定するための2つの準静的加速度センサが組み込まれています。これにより、データ収集と分析のさらなるレベルが追加され、テスト結果がより正確になるようになります。ELECTROGLAS/EG EG2001Xは、統合されたウェーハハンドリングシステムを備えており、より高い自動化と改善されたウェーハハンドリングスピードを実現します。全体として、ELECTROGLAS 2001 Xは、半導体デバイスをテストするための信頼性が高く、費用対効果が高く、確立されたソリューションを提供します。このユニットは、精度の向上、迅速なプロービング速度、および拡張されたテストオプションにより、ラボ、生産ライン、品質保証環境での使用に最適な信頼性の高いテスト環境を提供します。