中古 ELECTROGLAS / EG 2001X #9244736 を販売中

ELECTROGLAS/EG 2001Xは、半導体試験用に設計されたプローバです。高精度の測定が必要な集積回路やマイクロプロセッサの特性評価に使用されます。EG 2001 Xは、デバイスの正確で信頼性の高いプロービングを可能にするために必要な精度を提供します。プローバは、外部モーションコントロールコンソールと一連の張力制御マイクロプロセッサを備えています。また、アンビルスタイルのプローブヘッドも備えており、いくつかの小さな精密プローブが含まれています。これにより、プローブの先端が最小で最も複雑な領域でもデバイスと接触することができます。アンビルはまた動きの広い範囲を提供し、アンビルの先端の高さを調節することによってすぐに望まれる厳密な区域を書くことができます。ELECTROGLAS EG2001X proberには、ナノメートルレベルまでの表面高さ差を正確に測定できるスキャン測定装置も含まれています。このスキャナは、プローブが試験領域を通過する際にデバイス表面に存在する電圧を測定し、回路を正確に追跡し、開発の初期段階で回路の欠陥を特定することができます。さらに、ビジョンシステムとビジョンアシストオートフォーカスユニットも含まれており、ターゲット表面の位置を自動的に検出し、アンビルの高さを調整して、デバイスの表面と正確かつ一貫した接触を保証します。静電気保護装置は装置への排出そして潜在的な損傷を減らすように設計されています。オペレータは、外部制御コンソールの露出レベルと電圧範囲を選択することで、静電保護ツールを簡単に制御できます。さらに、Proberは温度設定の範囲が広いため、25〜250°Cの温度で試験装置をザップすることができます。全体的な2001Xは、高精度で信頼性の高いプローバであり、半導体試験に最適な幅広い機能を提供します。その耐久性と高い精度により、信頼性と正確なテストソリューションを探しているハイテク企業に最適です。