中古 ELECTROGLAS / EG 2001X #9194747 を販売中

ELECTROGLAS/EG 2001X Proberは、EGによって製造された商用ウェーハプロービングステーションで、半導体ウェーハのテスト用に設計されています。高精度のスキャンとテスト作業を迅速かつ正確に実行できるため、生産ラインやラボ環境での使用に最適です。EG 2001 X Proberにはいくつかの重要な機能があり、半導体試験に最適です。精密パターン認識と自動制御を可能にする高度な3軸装置を搭載しています。このシステムは、200ピンの静電容量結合プロービングノードと組み合わされ、複数のピンを高精度で同時にテストすることができます。このプラットフォームには、サンプルとの高速かつ正確なアライメントを提供する自動3軸サンプルローダー、およびテスト中のウェーハのクローズアップ表示を提供する高解像度顕微鏡も含まれています。ELECTROGLAS EG2001X Proberは、アルミニウム、シリコン、ヒ素ガリウムなど、幅広い半導体材料の試験が可能です。最大12インチのウェーハサイズに対応でき、テストサイトあたりのピン数は最大120個です。ユニットはまた、並列に複数のテストを実行することができます、ターンアラウンドタイムを削減するために。また、テストパターンを保存する機能があり、テスト情報を保存するために使用できるタイミングジェネレータとログブックが内蔵されています。この商用ウェーハプロービングステーションには、直感的で使いやすいグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）が装備されており、迅速なプログラミングとセットアップが可能です。また、グラフィカルかつ数値的に表示されるテスト情報へのリアルタイムアクセスを提供することもできます。これにより、迅速なトラブルシューティングと効率的な製品テストが可能になります。全体として、2001 X Proberは、半導体ウェーハの正確で精密な試験に最適です。その3軸マシンは優れたパターン認識と自動化された制御を提供し、200ピンの静電容量結合プロービングノードは並列テストを迅速かつ容易にします。組み込みの機能により、テストパターンの保存やテスト情報へのアクセスも容易になり、直感的なGUIによりセットアップとプログラミングが簡単になります。