中古 ELECTROGLAS / EG 2001X #9155121 を販売中

ELECTROGLAS / EG 2001X
製造業者
ELECTROGLAS / EG
モデル
2001X
ID: 9155121
Prober Table: High Operating system: Prober vision.CE (Eprom) Ring carrier: RC-2 Profiler: Piston Microscope: Olympus SZ-30 Chuck top: 6 Inch gold-ambient Align camera: Cohu - zoom Z Stage: PZ-150, 0.5-mil DAR Resolution: High Handler type: 6 Inch belt track Vision module: Cognex PRM-2 Power requirement: 220 Vac Air requirement: 80 psi Vacuum requirement: 18 Inch Hg.
ELECTROGLAS/EG 2001X proberは、コンピュータ制御の半導体プロービングおよび試験装置です。半導体デバイスの開発・製造・フィールドサービスにおいて、電気特性評価・故障解析の高精度プロービングを提供する自動化システムです。高度なICやMEMSデバイスでの使用に最適で、高い精度と再現性を提供します。EG 2001 X proberは、包括的なデバイスプロービングと正確なテストのための包括的なハードウェアとソフトウェアオプションを備えています。ウェーハプロービング、テストジグ、ピックアンドプレーステスト、非接触試験など、幅広い技術が可能です。Proberの高度なスキャンアレイ顕微鏡は、位置および故障診断のための高速かつ正確な画像取得を可能にします。このマシンには、未知の回路を迅速かつ正確にプロービングするための超高速で自動化された校正ツールが装備されています。プローブヘッドは、高密度プロービングをサポートし、最大100nmのプロービング解像度を提供するように設定できます。自動化された電圧オフセット測定アセットは、プロービングに対するデバイスの応答を検出するのに役立ち、スキャンの精度に対するフィードバックを提供します。このモデルは、高速かつ正確な電気試験の生成と解析のための特許取得済みの高速アルゴリズムを備えています。統合されたソフトウェアインターフェイスは、スクリプト作成、データストレージ、および後処理を完全にサポートする包括的な制御および分析ツールを提供します。マルチデバイステストのセットアップ、分岐、ループ、ステップなどの簡単な構成オプションにより、テストプログラムの精度を迅速かつ簡単に最適化できます。ELECTROGLAS EG2001X proberは使いやすいGUIインターフェイスと直感的なコマンドを備えており、使いやすさを高めています。装置は実験室および産業環境の広い範囲の有効な、信頼できる操作のために設計されています。オペレータに包括的な診断、テスト結果の検証、プログラム管理、データストレージ機能を提供します。
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