中古 ELECTROGLAS / EG 2001X #9155115 を販売中

ELECTROGLAS/EG 2001X proberは、半導体ウェーハの電気特性をテストおよび分析するために使用される自動デバイスです。このプローバは、集積回路およびウェーハの品質保証および信頼性試験に使用されます。高い再現性と信頼性で正確な結果を提供し、さまざまなデバイスの複雑なテストとプロービングを行います。EG 2001 X proberの設計は、その光学機器のモジュール構造に基づいており、汎用性と柔軟性を提供します。このシステムは、光学ヘッド、レンズアセンブリ、コントローラで構成されています。光学ヘッドは、2次元平面のx、 y、 z軸で幅広いプローブを移動できます。それに最適の焦点を得るために自動的に調節することができる統合されたモーターを備えた顕微鏡およびモーターを備えています。プローブホルダーは、さまざまなテストシナリオ用に設計されたさまざまなプローブをサポートし、デジタルおよびアナログコマンドで動作を制御できます。ELECTROGLAS EG2001X proberのレンズユニットは、高度な光学部品と設計原理を使用して、最高の透明性、コンピューター制御の画像復元と倍率調整、およびズーム機能を提供します。コントローラはマイクロプロセッサベースのマシンで構成されており、モーション、信号取得、データストレージおよび分析、レポート生成など、プローバのすべての側面を制御できます。外部ユーザーインターフェイスを使用して、プローバおよびプログラムテストと対話し、結果を分析することができます。ELECTROGLAS/EG EG2001X proberは、伝導特性、抵抗、静電容量、漏れ電流、および熱効果など、さまざまなパラメータを分析するために使用できます。各パラメータの測定値とデータは、ツールのインタラクティブなユーザーインターフェイスに明確に表示できます。さらに、オペレータは、ムーブメント、スキャン、パラメータ設定、測定、データロギングなどのプローバの機能にアクセスして編集することができます。全体として、ELECTROGLAS 2001 X proberは、大量生産試験、プロセス監視、研究開発などのアプリケーションに適しています。光学アセット、コントローラ、およびユーザーインターフェイスにより、幅広いサンプルタイプを正確かつ正確に測定および分析することができます。