中古 ELECTROGLAS / EG 2001X #9155114 を販売中

ELECTROGLAS/EG 2001X proberは、ウェーハプロービングおよび平面化に使用するために設計された高性能の非接触試験ツールです。これは、複雑な試験手順の間にウェーハを正確かつ正確に処理するために特別に設計された完全に自動化された試験装置です。EG2001 X proberは、シングルダイウエハ、マルチダイウエハ、MEMS、 NANDデバイス、HV （High Voltage）デバイスなど、さまざまなタイプのウェーハに信頼性が高く、効率的で効果的な試験ソリューションを提供するために開発されました。高速接触スキャン、高速非接触スキャン、動的平面化など、効率的なテストと包括的な分析を容易にするさまざまな機能を提供します。それは異なった破片、テストボードおよびサンプル基板のためのテスト変数の識別そして自動調節を可能にする高度の視野システムによって動力を与えられます。プローバーには、堅牢で信頼性の高い機能も多数搭載されています。連続テスト、並列テスト、個々の指示など、さまざまなテストサイクルが可能です。また、最適化されたウェーハマッピングをサポートし、スループットを向上させ、プロービングパラメータとテストパラメータを手動で調整します。プローバには、二軸関節ロボットアームと高解像度イメージングユニットが装備されており、各テストの前に正確なウェーハ位置を決定するために使用されます。また、直感的なユーザーインターフェイスを備え、カスタマイズ可能なタッチスクリーンディスプレイと統合された統計分析機を備えているため、正確で完全なテスト結果を簡単に生成できます。全体として、ELECTROGLAS EG2001X proberは効率的で信頼性が高く、ユーザーフレンドリーなテストツールであり、ウェーハデバイスの性能と完全性を正確に特定して検証するために使用できます。最適なスループット、使いやすいソフトウェア、優れたウェーハハンドリング機能を提供し、ウェーハデバイスの迅速かつ正確なプロービングとテストを可能にします。