中古 ELECTROGLAS / EG 2001X #9155072 を販売中

ELECTROGLAS/EG 2001X Proberは、半導体ウェーハのプロディングおよびプロービング操作用に設計された、高性能のパラレル自動試験装置です。ウェーハプローブテストやパラメトリックモニタリングなど、幅広いプロッディングタスクに対応できるように設計された、信頼性とコスト効率の高いツールです。EG2001 Xは、最新世代の高性能な半導体技術に最適です。プローバーは、高度なスキャン機能、包括的なモーションコントロール、柔軟なプロディング、および適応的なモーションコントロールを提供します。直感的なグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）を備えたコントロールインターフェイス、幅広いプロバーオプション、完全自動化された操作を備えています。このシステムのモーションコントロール機能により、完全積層ウェーハの自動テストから中ピン貫通および3-Cプローブ機能まで、さまざまなプロービングアプリケーションで使用できます。モーションコントロールは、プローブ力とウェーハスタブの両方の正確で反復可能な位置を提供することもできます。ELECTROGLAS EG2001X Proberのスキャン機能は、個々のニーズに合わせてカスタマイズでき、マルチステージスキャン、垂直スキャン、レーキスキャン機能が含まれます。さらに、高精度の電気校正機能を内蔵しています。4ミクロンの加速プローバ精度を備え、各種ICやオプトエレクトロニクス機器に使用できます。機械の洗練された設計は自動水平になるサポート、自動破片の痕跡および訂正、ユーザー定義の積み重ねの検出、高速信号およびDCの分析および多数の機能を制御するための便利にアクセス可能な外的な港の配列のような他の複数の特徴を提供します。2001X Proberには非常に効率的なツール構成があり、ユーザーはアプリケーションごとにアセットを最大限に効率的に構成することができます。さらに、プローバには、欠陥ICの修復と再作業のための組込み高性能リワークモデルも装備されています。さらに、この機器は、便利で効率的なデータ取得と分析のための専門的なメンテナンス、データ監視、イメージング、および印刷機能を提供します。効率的で信頼性の高いELECTROGLAS 2001X Proberは、最新世代の半導体技術のための汎用性と経済的な試験ツールです。その包括的な機能と機能は、半導体メーカーにとって貴重な資産となります。