中古 ELECTROGLAS / EG 2001X #9116534 を販売中

ELECTROGLAS/EG 2001X proberは、半導体デバイスの精密かつ高精度なテストを提供するように設計された高速ウェハレベルのプローブ試験装置です。多種多様な集積回路デバイスを複数のノードでテストし、スティムおよび測定動作を行うことができます。EG 2001 Xは、プロービングとハンドラの両方の技術を統合し、リアルタイムのフィードバックとハザード保護を提供する半自動システムです。ELECTROGLAS EG2001Xユニットは、最大直径6インチのウェーハに対応し、迅速かつ簡単なウェーハのローディングとアンロードを可能にします。プローバはまた、安定した再現可能な試験結果を確保するために、クローズドループ熱調整機を使用しています。このツールはまた、各プローブサイクルのサブミクロン精度を可能にする高精度の自動プローブ位置決めモジュールを備えています。これにより、隣接するテストポイント間の重複が最小化され、テスト中のデバイスとプローブ間の一貫性のあるプローブギャップが保証されます。ELECTROGLAS/EG 2001 Xは、1時間あたり最大902,000プローブの高速アセットも備えており、テスト時間の短縮とウェーハサイクル全体の短縮を実現します。このモデルは、複数のI/Oピン、各ピンの容量性カップリング、および統合されたピン欠陥検出機能を備えており、高密度ICデバイスを損傷するリスクなしにテストできます。この装置には、プロービング機能に加えて、統合されたウエハハンドラも含まれています。このウェーハハンドラは、ウェーハドックとプローブヘッドの間でウェーハを安全に輸送し、試験スループットを最大化することができます。EG2001Xシステムは、多様なウエハサイズと集積回路デバイスに対応できる、信頼性の高い効率的なテストソリューションを提供します。このユニットのagilentsteppersと統合された熱障害検出機能により、シングルダイおよびマルチダイICのテストに最適です。ELECTROGLAS 2001Xは、統合されたハンドラ、高精度のオーバーラップ試験の可能性、および高速かつ正確なウェハプロービング動作により、半導体製造および集積回路設計にとって貴重なツールとなります。