中古 ELECTROGLAS / EG 2001X #9105266 を販売中

ELECTROGLAS/EG 2001X Proberは、品質管理および故障解析プロセスで使用するように特別に設計された、完全に自動化された高精度プローブステーションです。プラットフォームの高度なウェーハプロービングおよび光検査技術は、複雑な半導体構造に関する詳細なデータを確実に記録および保存します。EG2001 Xは製造および研究所の両方の必要性を満たす多目的なproberです。デバイス構造、テストサイト、およびその他の関連機能に関する正確なデータを提供するように設計されています。これを行うために、それは堅牢な設計要素の範囲を採用しています。プローバーの本体は丈夫なアルミ合金製で、200mmから8インチまでの範囲のウェーハサイズに対応できます。プラットフォームには最新のプローブカード技術が搭載されており、さまざまなテストソケットシステムを使用した書き込みや測定に最適です。また、すべての主要なテストシステム、ロボティクス、SMD、 FIB、 スキャンIOなどで動作するように設計されています。プラットフォームには2つの異なる姿勢があります。書き込み段階では、プラットフォームは絶縁モードと接触モードの両方でウェーハの電気テストを実行し、さまざまな形式でテストデータを書き戻すことができます。測定サイドビューには、CMOS、バイポーラ、スペシャルティデバイスのスキャンがあり、それぞれに独立したプローブ、プローブカード、アクセサリがあります。正確な結果を得るために、プラットフォームには高精度のリニアスケール、高解像度カメラアレイ、および強力な光学系が搭載されています。このスケールにより、ウェーハの正確な位置決めが可能になり、プローブが対応するサイトから正確な測定を得ることができます。カメラアレイは構造全体をキャプチャし、構造の欠陥を検出することができます。強力な光学系は、解析結果が最も正確であり、プロービングが正しく行われることを保証します。ELECTROGLAS EG2001X proberは、精密なテストデータと詳細な分析を必要とするあらゆる実験室や施設に理想的なツールです。その信頼性の高い設計と最先端の技術力により、信頼性の高い結果を必要とする研究者やエンジニアに最適です。