中古 ELECTROGLAS / EG 2001X #9088269 を販売中

ELECTROGLAS/EG 2001Xは、半導体ウェハテストと製造のための強力なプローバです。これは、高度な技術を使用してコスト効率を最大限に高め、最高の精度と速度で結果をもたらす高性能ウェーハテストおよびプロービングソリューションです。EG 2001 Xは、最大プローブ面積が11 x 11インチの完全自動プローブステーションです。75mmのZ軸ムーブメントを備えたモーター式のX-Yステージと、0-200gramのZ軸フォースフィードバック装置を備えています。このステーションは、TTL/DCレベルの信号整合性保護システムを備えた最適化された低ノイズフロアを備えており、高ノイズ環境での信号品質を向上させます。ELECTROGLAS EG2001Xには、ファインラインウェーハアライメント精度を提供する高速Eビームアライメントユニットも装備しています。また、特許取得済みのパワーベースのウェーハ寿命推定器を備え、完全に自動化された校正手順を備えています。ステーションは、過酷な環境での歪みを最小限に抑える温度補償された鉄骨フレームで構成されており、特定のアプリケーションのニーズを満たすために柔軟なプロービングソリューションを備えています。プローブステーションにはさまざまなボールチッププローブが装備されており、高度なソフトウェアを使用してプロービング限界をカスタマイズし、正確なフィードバックを提供します。プローブは、複数点の直線性アルゴリズムで校正することもでき、結果の最大精度と再現性を保証します。ELECTROGLAS/EG EG2001Xはまた、精密な光学セットポイント整列マシンを内蔵しているため、プローブチップをナノメートルスクライブラインに正確に整列させ、厚いウェハを高速かつ正確にプロービングできます。EG EG2001Xは、フォルト解析、組み込みテスト、ONおよびOFFテストおよび特性評価など、幅広い高度なテストオプションを提供します。また、MEMSデバイス試験用のオプションのミニロボットと大容量プロービングを装備しています。このツールは、自動ウェーハプロービングソリューションだけでなく、大量のアプリケーションにマルチウェーハプロービングソリューションを提供することができます。さらに、ELECTROGLAS 2001Xは高速時間領域反射計と統合されており、ナノ秒の解像度でギガヘルツ周波数での波形の正確で信頼性の高い測定を提供します。この機能は、デジタル波形、アナログ波形、ミックスドシグナル波形の解析に役立ち、テストの時間とコストを削減するのに役立ちます。全体として、EG2001Xはウェーハテストとプロービングのための効率的で信頼性の高いプローバです。Eビーム整列アセット、精密光学セットポイント整列モデル、TTL/DCレベルの信号整合性保護装置、高速時間領域反射計、オプションのミニロボットなどの最先端の技術を備えています。これらの機能と包括的なテストオプションを組み合わせた2001 Xは、需要の高い半導体テストおよびプロービングアプリケーションに最適なソリューションです。