中古 ELECTROGLAS / EG 2001X #9014705 を販売中

EG （ELECTROGLAS） ELECTROGLAS/EG 2001X proberは、半導体チップの生産を支援するために設計された特殊なツールです。ウェーハプロービングプロセスで一般的に使用されています。これは、より大きな統合機器に組み込まれる前に、電気特性と性能のための集積回路（IC）チップをテストするプロセスです。EG 2001 X proberは、さまざまなプロービング、スキャン、マッピングを実行できるコンピュータ制御の多機能マシンです。その正確な測定により、エンジニアは単一のチップ上のラフスポットを特定してデバッグすることができます。このユニットは、プロービング、テスト、分析に使用される幅広いアプリケーションソフトウェアと互換性があります。ELECTROGLAS EG2001Xは、レイアウトとセットアップの柔軟性を可能にするコンパクトでモジュラー設計を特徴としています。プローブアームに直接取り付けられる高速モーションコントロールツールヘッドを内蔵しています。このツールヘッドは、マイクロリードや針などの幅広いツールに対応するように設計されています。プローブアームは、自動化されたプロセス制御のための外部デジタル制御システムに接続されています。2001Xは、高解像度の自動ウェーハ位置決めユニットを備えています。この機械はプローバーがすぐに欠陥を識別し、測定することを可能にする斜めの動きおよび回転を含むXYZの動きが、可能です。ウェーハ位置決めツールは、プローバが適切に整列して、プロービング後のICの特性を正確に評価することを保証します。ELECTROGLAS 2001Xには、高性能スキャンモジュールが含まれています。このモジュールは、チップのアクティブ領域の品質を自動的に測定し、異常を探すように設計されています。均一な不規則性の評価、ドーパント濃度の測定、その他の試験作業を行うことができます。ELECTROGLAS/EG 2001 X proberは、集積回路の迅速な評価とデバッグのために、通常、IC生産ラボで使用されます。高解像度スキャン機能と自動化されたプロセス制御により、プローバは正確なウェーハプロービングデータをタイムリーに提供できます。その使いやすさは、IC製造プロセスにおいて貴重なツールとなります。