中古 ELECTROGLAS / EG 2001X #293604675 を販売中

製造業者
ELECTROGLAS / EG
モデル
2001X
ID: 293604675
ウェーハサイズ: 8"
Prober, 8".
ELECTROGLAS/EG 2001X proberは、半導体製造に使用するために設計されたハイエンドのウェーハ試験装置です。シリコン、ヒ素ガリウム、SOIなど、さまざまなウエハータイプの検査、検査、診断が可能です。プローバーは、ウェーハキャリアに最大10個のパドルを同時に積載する、自動パドルローディング装置を備えています。このシステムは、ウェーハをプローバに配置するために必要な時間を最小限に抑え、個々のプローブ操作中の中断を最小限に抑えます。機械の低い加速および低いフレームの振動は敏感な装置への損傷を防ぎ、位置の転位を減らします。EG2001 Xは9軸モーションユニットを採用しており、300mm/sまでの高精度なモーションプロファイルと速度を実現します。プローバーはまた、より正確なウェーハ配置を提供することに加えて、ウェーハの読み込み時間を減少させるZ軸リフトと地形を交渉する能力を持っています。商業等級の光学機械は各針のユーザーの整列制御、また各針のための調節可能な電気関係を提供することを可能にします。これにより、電子部品のテストパッドへの正確で信頼性の高い接続が保証されます。プローバーは、アライメントオフセットや針先キャリブレーションなど、さまざまなキャリブレーション機能を提供し、複数のプロービングを同時に同期する機能を備えています。可変倍率機能により、デバイスのアライメントを正確に表示および監視でき、信号対ノイズ比が向上してプローバのパフォーマンスが向上します。Proberには、GPIB、 Ethernet、 SVGAMなどのさまざまな接続およびデータ転送機能が搭載されており、高速データ転送と半導体製造制御システムとの最大限の互換性を提供します。さらに、ELECTROGLAS EG2001Xはプログラムとデータバックアップ機能も備えており、電源切断後でもすべてのテストデータを安全に回復できます。エレクトログラス/EG 2001 X Proberは、高度な動作と接続機能に加えて、包括的な試験機能を備えており、効率的な半導体デバイス試験に不可欠なツールです。
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