中古 ELECTROGLAS / EG 2001X #293591488 を販売中

ELECTROGLAS/EG 2001Xは、高性能な半導体テスト環境を提供するために設計されたプローバです。集積回路の電気特性を検出、分類、測定しながら、優れた精度と再現性を提供するために構築されています。EG 2001 Xは、完全な特性評価を可能にするために、従来のチップセットと複雑なチップセットの両方をテストすることができます。高度なデータ共有ツール、統合データ解析、EDA（電子設計自動化）互換性、半自動デバッグなど、ユーザーフレンドリーなインターフェイスと先進技術を備えています。手作業による検査時間を短縮し、生産率と歩留まりを向上させることを目指しています。ELECTROGLAS EG2001Xには、プローブ、統合されたテストヘッド、高さ調整可能な3つの作業位置があり、ユーザーは特定のタスクの要件に応じてプローバーをカスタマイズできます。プローブには、電流、電圧、抵抗などの広範な電気パラメータの直接接触試験に使用できるファインピッチニードルが装備されています。そのプローブは信頼性が高く正確であり、あらゆる半導体パッケージの特性要求に正確に対応できます。400mmウェーハステージは、立体的なアライメントと微細な位置調整により、正確なプロービングを実現します。DFA（ダイ・フォー・アライメント）およびWFA（ウェーハ・フォー・アライメント）アライメント・ツールは、高品質な結果を提供し、±7µmのアライメント精度でウェーハのミスアライメントを低減します。2001Xは象眼細工されたタングステン先端針で設計されており、プロバーヘッドのメンテナンスをサポートし、システム交換コストを削減します。水分制御ユニットを使用して設計されており、テスト温度が常に一貫していることを保証します。さまざまなテストシナリオに対応するさまざまな環境制御オプションを提供しています。EG EG2001Xは、幅広い入出力モジュール、および簡単な操作のためのメモリ、プロット、およびネットワーク接続のオプションをサポートしています。そのプロービングとテスト機能は、処理と分析を可能にする機能と補完されています。測定スイート、テストプログラムジェネレータ、およびグラフィックディスプレイを統合する柔軟性を提供します。2001 Xは、信頼性と正確な試験結果を提供する高性能プローバを探している電子メーカーにとって理想的な選択肢です。その幅広い機能により、マシンは個々の要件を満たすために調整することができます。その柔軟性と包括的なテストオプションにより、ファインピッチプロービングとIC特性評価に最適です。