中古 ELECTROGLAS / EG 2001X #186971 を販売中

EG （ELECTROGLAS） ELECTROGLAS/EG 2001X proberは、半導体製造業界の障害検出、特性評価、テスト用に設計された自動ウェハプロービングソリューションです。高密度の電子回路やその他の構造、ならびに集積回路（IC）およびディスクリート部品をプローブするための理想的なツールです。EG 2001 Xは、デバイスの特性評価とテストに必要な、より正確で低速なプロービングと高速プロービングの両方を実行することができます。ELECTROGLAS EG2001Xは、高精度で高速なX-Y電動ステージを備えており、最大1 μ mの精度でウェーハを迅速かつ再現可能にスキャンできます。この装置には、複数のセンサタイプだけでなく、フォースコントロールとアクティブダンピングも装備されており、比類のない精度と再現性を提供します。さらに、プローブシステムは同軸プロービングと接触プロービングの両方を実行することができ、さまざまな電圧およびインピーダンス要件を持つ幅広いコンポーネントを迅速に特性評価することができます。EG 2001Xには、ステップアンドリピートプロービングを実行したり、複数の場所でデバイスパラメータを測定したり、テスト後のエンジニアリングレポートを生成する機能など、パフォーマンスを向上させるためのいくつかの追加機能があります。このユニットには、プロービングレシピやテストマクロなどのさまざまなソフトウェアツールも含まれており、テストプロセスを自動化および合理化します。ELECTROGLAS 2001Xは、ELECTROGLAS/EG ChoiceオートメーションローディングシステムおよびVisionESALライトガイドローディングシステムと統合して、ダウンタイムを短縮し、スループットを向上させます。高度な機能に加えて、ELECTROGLAS/EG EG2001Xは使いやすく、メンテナンス性が低いように設計されています。操作には最小限のトレーニングが必要で、モジュラー設計により更新やアップグレードが容易になります。機械はまた自己点検、自己診断および自己調節の機能を組み込み、一貫した、信頼できる性能を保障します。全体として、EG （ELECTROGLAS） EG2001X proberは、幅広い半導体アプリケーション向けの高度で高精度で信頼性の高いプロービングソリューションです。高速スキャン、正確な位置決め精度、さまざまな試験機能を組み合わせることで、高密度回路や部品の故障検出、特性評価、試験に最適です。