中古 ELECTROGLAS / EG 2001X #152201 を販売中

ELECTROGLAS/EG 2001X proberは、ウェーハおよびパッケージレベルで半導体デバイスをテストおよびデバッグするために使用される革新的なツールです。高速測定を実現し、各種ICや部品の正確な特性評価を行う高精度プラットフォームです。プローバには自動化されたアライメント装置が装備されており、ウェーハ上の任意の角度または位置で、トランジスタ、チップ、抵抗、コンデンサなどのさまざまなICおよびコンポーネントをプローブする柔軟性をユーザーに提供します。また、ユーザーはプローブカードを介してデバイスと接触することができます。EG 2001 Xは堅牢な機能とモジュラーアーキテクチャで設計されており、ほこりや湿度などの環境要因から優れた保護を提供します。プローバーはまた、プロービングカードの精密かつ反復可能な動きのための高速サーボモーターシステムを備えています。最適な精度を確保するために、プローバーには温度制御ユニットとリアルタイムの温度補償ユニットが内蔵されています。この温度制御メカニズムは、機械を校正し続けるのに役立ち、測定がすべての測定で同じ温度で行われることを保証します。プローバーには、ユーザーが簡単にテストデータをキャプチャして分析できる幅広いソフトウェアアプリケーションが付属しているため、テストされたデバイスをよりよく理解することができます。このデータはさらに、問題を特定し、最適化されたソリューションを開発するために使用することができます。さらに、proberには、さまざまな結果の比較とテストされたデバイスに関する新しい情報の発見を容易にする包括的なレポート作成ツールも付属しています。全体として、ELECTROGLAS EG2001X proberは、さまざまなICおよびコンポーネントをテストおよびデバッグするための信頼性の高い効率的なプラットフォームをユーザーに提供します。その高精度技術は正確な測定を保証し、内蔵の温度制御ユニットは信頼性と再現性の高いテストを保証します。強力なソフトウェアアプリケーションとレポートツールを備えたELECTROGLAS 2001 Xは、豊富なデータをキャプチャし、問題の特定と最適化されたソリューションの開発に必要な柔軟性を提供します。