中古 ELECTROGLAS / EG 2001X #125078 を販売中
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ID: 125078
ウェーハサイズ: 6"
Full auto probe station, 6"
Version : CD version
Vision module : COGNEX
Hard ware configuration
6" auto wafer prober
ring carrier
probe card holder
6" gold chucktop
Z-stage 0.25 mil
ZY stage with base unit controller
W/F profile unit
Auto ailgn unit w/ccd optic assy
9" B & W monitor
Operator console assy
6" wafer auto loader kit
Interface: TTL / RS232C / GPIB
OLYMPUS microscope
High table & low table.
ELECTROGLAS/EG 2001Xは、半導体デバイスの精密解析を提供するために設計された高度なプローバです。これは、手動および完全に自動化されたプロービング操作の両方を実行するために使用できる、完全に自動化された構成可能なアナライザです。8チャンネルの機器を搭載しており、最大8台のデバイスまたはウェーハを同時にプロービングできます。このシステムには、大規模な環境制御エンクロージャに統合された機械/熱計測ユニットが含まれています。このエンクロージャは自動調節可能なサンプルステージ、接触力センサー、環境センサー、および統合された接触器/モーター制御を特色にします。EG2001 Xの機械的/熱測定機は、プローブからターゲットへの接触力、接触抵抗、漏れ電圧、およびショート/オープンチェックの正確なデータ取得と分析を可能にします。ツールで使用されるプローブは、さまざまな種類のテストにさまざまな接触力を提供できます。さらに、このアセットにより、温度パラメータの接触依存測定が可能になります。ELECTROGLAS EG2001Xを搭載したソフトウェアスイートは、プローバとプロービング操作を完全に制御します。これには、プロービング接続マネージャ、サーマルマネージャ、およびテスト結果の監視および分析に使用できるSPCアナライザが含まれます。さらに、このモデルには、複数のデータロギングおよび統計分析機能と、テストレコードを格納するための統合データベースがあります。EG2001X装置は非常に信頼性が高く正確であり、プロービング操作中のリアルタイムのフィードバックを可能にします。これにより、半導体デバイスの生産およびテスト環境に最適であり、このようなシステムで必要とされる高精度と再現性を実現します。
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