中古 ELECTROGLAS / EG 2001CXE #9260444 を販売中

ELECTROGLAS/EG 2001CXEは、集積回路（IC）を測定および検査するために設計された精密プローバです。プローブにICを接続したり、ウェーハ上でICをテストしたり、さまざまなアプリケーションでICを使用するのに適しています。EG 2001CXEは最大0.001µmの動的分解能を持ち、迅速かつ正確な試験結果を提供します。プローバーのアーキテクチャは走査型電子顕微鏡に似ており、コンパクトなプラットフォームとユニークなエアベアリング設計を備えています。Proberは高度なオートメーションシステムを備えており、複雑なタスクをほんのわずかな時間で完了させることができます。ELECTROGLAS 2001 CXEには、2つのプローブ、プローブチェックチャンバー、手動データ入力用の数値キーパッド、真空ウェハチャック、デジタル読み出しシステム、高解像度光ピックアップヘッドなど、多くの標準機能が含まれています。内蔵アンプにより、信号の利得とオフセットを調整できます。さらに、Proberはプローブの高さを調整できるため、さまざまなアプリケーションに最適化できます。2001CXEには、さまざまな測定データを表示できるフラットパネルLCDディスプレイや、テスト中のウェーハのライブイメージも搭載しています。これにより、検査プロセスのリアルタイムの検査と監視が可能になります。また、Proberは高度なソフトウェアを備えており、ICの特定の部分を自動的にテストするだけでなく、1つのバッチで複数のウェーハをテストするように構成することができます。EG 2001 CXEは最新の精密メカニクスとモーションコントロール技術を使用しており、ICのテストに完全に自動化されたソリューションを提供します。統合ソフトウェアは、リアルタイム分析を提供し、ユーザーが迅速に欠陥や不一致を識別して対処することができます。さらに、プローバは最新のIC設計およびピングリッドアレイ（PGA）チップセットと互換性があり、正確で信頼性が高いことを保証します。2001 CXEは、ICのテストと検査のための強力で信頼性の高いツールです。Prober独自の機能と機能により、さまざまなアプリケーションでICをテストおよび検査するための費用対効果が高く信頼性の高い方法をユーザーに提供します。高度なオートメーションシステム、高解像度、高速試験速度を備えたELECTROGLAS 2001CXEは、IC試験および検査に最適です。