中古 ELECTROGLAS / EG 2001CX #9243023 を販売中

ELECTROGLAS/EG 2001CXは、EG Corporationが半導体業界で商業的に使用するために開発した先進的なプローバーです。ウェーハおよびダイの高速自動プロービング用に設計されており、特に小型ジオメトリまたは低消費電力アプリケーション向けに設計されています。1ミクロンの精度で毎秒最大1400ピンのプローブが可能です。Proberは、一連の高度な光学部品、電気部品、機械部品を使用して、集積回路チップ上の試験回路の電気特性を正確に測定および特性評価します。EG 2001CX proberに高速テストのために合わせるさまざまな重要な特徴があります。まず、XYZの自動位置決め装置と、スループットを向上させるマルチポジションのウェハハンドラを備えています。プローバーには、ウェーハの正確で再現可能なアライメントが可能な高速コンピュータ制御ウェーハステージが装備されており、ロードボードへのダイが可能です。さらに、ELECTROGLAS 2001 CX proberは、レーザダイオードアライメントユニットを備えた高度な光学システムと、ダイとパターン認識用の統合ビジョンマシンを備えています。ELECTROGLAS 2001CX proberは、XYZポジショニングとウェハハンドリングの自動化に加えて、接触抵抗と静電容量の精密測定も可能です。12ビット分解能のコンピュータ制御信号プロセッサと、より簡単で正確な測定を可能にする多機能インターフェイスチップを備えています。また、プロセッサには漏れ電流や過渡電流など、多数の測定モードがあります。EG 2001 CX proberの高度な特性により、極めて精度の高い部品やチップをプローブすることができます。2001 CX proberは、幅広い環境やアプリケーションでの信頼性の高い動作のためにも設計されています。0〜50°Cの動作温度範囲を持ち、24時間365日の動作に十分な堅牢性を備えています。さらに、プローバには、緊急シャットダウンスイッチとプローバの偶発的な活性化を防ぐ安全ロックスイッチが内蔵されています。全体として、2001CX proberは、集積回路のテストと特性評価のための高度な商用ツールです。XYZの自動位置決めとウエハハンドリング、高度な光学部品、精密測定機能を備えているため、小型ジオメトリや低消費電力アプリケーションのテストに非常に適しています。堅牢な設計により、幅広い作業環境で信頼性の高い操作が可能です。