中古 ELECTROGLAS / EG 2001 #293659202 を販売中

ELECTROGLAS/EG 2001 proberは、主に半導体集積回路（IC）試験用に設計された専用ツールです。ウェーハ試験構造やICの手動プロービングに使用されています。このデバイスは、精密ウェーハ処理装置と直感的で多軸調節可能なプローブヘッドを組み合わせているため、手動および自動テストの両方に適しています。EG 2001 proberは、ベースユニット、垂直プローブヘッド、水平プローブヘッドで構成され、すべて安定したプラットフォームに搭載されています。ベースユニットには、プローブヘッドの垂直方向と水平方向の動きを制御するメインエレクトロニクスとサーボモータが含まれています。プローブヘッドは複数の調整可能なコンタクトで構成されており、異なるプローブカードをシステムにロードできます。各プローブカードには、ICを正確にプローブするために細かく傾斜したプリロードされたプローブのセットが含まれています。垂直および水平のプローブカードは、それぞれベースユニットのコントローラによって駆動されます。各コントローラには、手動と自動の2つのモードがあり、手動または自動のICプロービングが可能です。手動モードでは、オペレータはプローブヘッドの垂直方向と水平方向の軸を調整して、手動でオンウェーハテストポイントにアクセスできます。自動モードでは、オペレータは、各ICをプローブするときにユニットが従うように指示のセットをプログラムすることができます。ELECTROGLAS 2001 proberにはタッチスクリーンインターフェイスが装備されており、ICと接触する際にプローブに関する視覚的なフィードバックをオペレータに提供します。このマシンにはエンタープライズレベルのソフトウェアパッケージもあり、プローバーのステータスとメトリックを遠隔監視できます。この機能により、技術者はテストパラメータをリモートで変更し、時間と労力を節約できます。全体的に見て、2001 proberは信頼性の高い正確なプローブテストステーションを探している半導体企業にとって理想的なソリューションです。このデバイスは、精密なウェハハンドリングツールと調整可能なプローブ接点、タッチスクリーンインターフェイス、および洗練されたソフトウェアを組み合わせているため、オペレータはICを迅速かつ正確にトラブルシューティングできます。この直感的なデバイスは、オペレータからの最小限の労力でウェーハプロービング操作を最適化することができます。