中古 ELECTROGLAS 4090 #9231745 を販売中
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ELECTROGLAS 4090 proberは、集積回路（IC）の製造における自動ウェハハンドリングとテストを提供する高度なウェハプロービング装置です。接触電気特性とデバイス幾何学的パラメータを高精度かつ優れた再現性で正確に測定できるように設計されています。4090は、プローブのグリッドを使用して小さな電気力を測定するシングルキャリア静電力顕微鏡（EFM）技術に基づいています。このシステムは完全に自動化されており、コンタクトチップ、トランジスタ、スルーシリコンビアス（TSVL）などの幅広い幾何学的サンプルを確実に測定するように設計されています。Proberは、Field-Programmable Gate Array （FPGA）を使用して、任意の手動またはマイクロマニピュレータ、またはプロバースキャンヘッドと互換性があります。この強力な機能により、デバイス上の1つの接点の小さな電圧変化を正確に検出できます。例えば、信頼性の高いデバイスでは、数ミリランプの電流漏れを検出することができます。ELECTROGLAS 4090 proberは精密位置決め装置および洗練されたコントローラーのフルレンジが装備されています。この機械は、測定する特性に応じて異なる測定技術を選択するようにプログラムすることができます。また、カスタムスキャンオプションがあり、フレキシブルな速度で任意の利点からデータを取得できます。さらに、このツールには高解像度レーザー干渉計が搭載されており、正確なスキャンが可能です。また、迅速かつ正確なアライメントで滑らかな動きを保証するためのエアベアリングステージも含まれています。このアセットは、多次元アライメント、テスト時間の最適化、重要なパラメータの分析、ウェハテストやプロトタイピングに適したプローブの位置決めなど、さまざまな高度なソフトウェア機能をサポートしています。4090はまた電気接触特性、接触角の測定、汚染のテスト、およびナノマニピュレーションのような高度の測定の機能の広い範囲を提供します。それにproberの光学および接触パッドの寿命を延長するために温度および湿気を調整できる専門にされた環境の部屋があります。ELECTROGLAS 4090 proberは、今日の集積回路生産ラインの厳しい要件を満たすように設計されています。高精度な測定機能、効率的なオートメーション機能、革新的なソフトウェアにより、ウェーハのテスト時間を短縮し、スループットを向上させます。
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