中古 ELECTROGLAS 4085X #9211992 を販売中
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ELECTROGLAS 4085Xは、ウェーハレベルICの電気試験用に設計された高性能プローバです。4085Xは、Windowsベースのソフトウェアで動作し、サブミクロン精度で電気的テストとプロービングのための幅広い機能を備えています。プローバは、最大200〜400mmのウェーハサンプルをテストできます。12ピックポイントパッケージハンドラを備えた完全5軸設計で、アライメント精度と再現性を向上させるE2チップアライメントシステムを搭載しています。ELECTROGLAS 4085Xは、最適なパフォーマンスを実現するために設計されたさまざまな機能を備えています。6軸関節アームを備えており、正確でプログラム可能なX、 Y、 Z、 R、 P、ヨーの動きを可能にします。プローバはまた、微調整された測定およびDFA精度公差モニタリングのための複数のステージを備えています。統合されたDassault Systèmes COMPASSソフトウェアは、迅速な測定シーケンス選択を可能にします。さらに、プローブステーションには、高速デジタル信号プロセッサを使用してテラバイトのデータを分析し、ウェーハ表面の不均一性を特定して電気試験性能を向上させるイメージプロセッサがあります。プローバーには、制御可能なエンドポイント動作のトータルソリューションであるITSモーションコントロールシステムが付属しており、電気試験用のピンとプローブの正確なアライメントを可能にします。また、マクロプログラミング機能と高度な温度コントローラを備えており、プロバーステーションの優れた真空性と清潔性を維持しながら、最大80Cの温度範囲を管理できます。また、4085Xには10ピンテストアダプタを備えた高度な電気安全パッドがあり、試験環境を潜在的なリスクから保護します。プローバーは、ウェーハダイシングやソート、レーザートリミング、トリムパッキング、ICテストなど、幅広い用途で使用されています。また、耐久性のある設計で、堅牢な外側ケーシングと、動作中にテストモジュールを保護する強化構造を備えています。ELECTROGLAS 4085X proberは信頼性が高く、正確で、高周波でも正確にウェーハサンプルをテストできます。そのため、ウェハレベルのICテストに最適です。
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